JINSP SR100Q เครื่องวัดสเปกโตรมิเตอร์ไฟเบอร์ออปติกความไวสูงสำหรับการวัดความหนาของฟิล์มที่แม่นยำ ช่วงสเปกตรัม 200nm - 1100nm

อุตสาหกรรมสมัยใหม่ใช้ประโยชน์จากเทคโนโลยีฟิล์มบางต้องใช้วิธีการวัดที่ซับซ้อน วิธีการโฟโตอิเล็กทริกให้ข้อได้เปรียบที่ไม่มีใครเทียบได้: การเปลี่ยนแปลงตัวอย่างเป็นศูนย์ควบคู่ไปกับการอ่านทันที การทำงานร่วมกันของเซ็นเซอร์ออปติคัลและการวิเคราะห์เชิงคำนวณปูทางไปสู่เทคนิคการผลิตที่ชาญฉลาดและประสิทธิภาพของวัสดุที่เพิ่มขึ้น

เครื่องสเปกโตรมิเตอร์ JINSP SR100Q ถูกรวมเข้ากับ Hamamatsu S7031 ซึ่งเป็นอาร์เรย์ CCD Area CCD Area CCD ด้วยขนาดพิกเซลสูงถึง 24*24μmและประสิทธิภาพควอนตัมที่ยอดเยี่ยมสูงถึง 92%ทำให้มั่นใจได้ว่าการตอบสนองสูงในแถบอัลตราไวโอเลตและช่วยเพิ่มความไวและ SNR ของสัญญาณที่อ่อนแอ นอกจากนี้ยังสามารถตระหนักถึงสัญญาณสเปกตรัมที่ยอดเยี่ยมและประสิทธิภาพที่เสถียรและเชื่อถือได้ตามเส้นทางแสงความละเอียดสูงขั้นสูงและชิปการประมวลผลสัญญาณ FPGA ความเร็วสูงความเร็วสูง

• ประสิทธิภาพควอนตัมสูง, 92%สูงสุด@650nm, 83%@232nm
• SNR สูง: เสียงมืดต่ำเป็นพิเศษภายใต้เวลารวมที่ยาว SNR สูงถึง 1,000: 1
• การประมวลผลสัญญาณอ่อนแอที่ปราศจากเสียงรบกวนในการเปิดรับแสงนานการปรับตัวเข้ากับสภาพแวดล้อมที่แข็งแกร่ง
• วงจรความเร็วต่ำและความเร็วสูง: USB3.0

แหล่งกำเนิดแสงไฟเบอร์ที่ส่องสว่างฟิล์มทำให้เกิดการสะท้อนที่อินเทอร์เฟซทั้งสอง สเปกโตรมิเตอร์ตรวจจับการรบกวนของคานเหล่านี้ช่วยให้การกำหนดความหนา (d) ผ่านวิธี Extremum (θ, N และสเปกตรัม Extrema) ความหนาแน่นของความหนาแน่นของขอบที่มีความหนา แต่ลดลงที่ความยาวคลื่นที่ยาวขึ้น ช่วงความยาวคลื่นที่เหมาะสมและความละเอียดทำให้มั่นใจได้ว่าการวัดความถูกต้อง

• ตรวจจับการดูดซึมการส่งผ่านและสเปกตรัมการสะท้อนกลับ
• แหล่งกำเนิดแสงและลักษณะความยาวคลื่นเลเซอร์
• โมดูลผลิตภัณฑ์ OEM: สเปกตรัมเรืองแสง, สเปกตรัมรามาน ฯลฯ