Φασματόμετρο οπτικών ινών για γρήγορη και ακριβή αξιολόγηση πάχους φιλμ SNR 1000 1 Κβαντική απόδοση 83% 232nm

Η εξέλιξη των εφαρμογών λεπτών φιλμ απαιτεί εξίσου προηγμένες λύσεις μετρολογίας. Οι φωτοηλεκτρικές τεχνικές ανταποκρίνονται σε αυτήν την πρόκληση με τις ήπιες αλλά γρήγορες δυνατότητες μέτρησής τους. Ενσωματώνοντας ανάλυση με γνώμονα την τεχνητή νοημοσύνη, αυτά τα συστήματα παρέχουν χρήσιμες πληροφορίες για τη βελτιστοποίηση της διαδικασίας και τη μηχανική υλικών επόμενης γενιάς.

Το φασματόμετρο JINSP SR100Q είναι ενσωματωμένο με το Hamamatsu S7031, ένα τσιπ CCD περιοχής επιστημονικής ποιότητας με ψύξη TE. Με μέγεθος εικονοστοιχείου έως 24*24μm και εξαιρετική κβαντική απόδοση έως 92%, εξασφαλίζει υψηλή απόκριση στην υπεριώδη ζώνη και βελτιώνει αποτελεσματικά την ευαισθησία και το SNR των ασθενών σημάτων. Επιπλέον, μπορεί να πραγματοποιήσει εξαιρετικά φασματικά σήματα και σταθερή και αξιόπιστη απόδοση με βάση την προηγμένη οπτική διαδρομή υψηλής ανάλυσης και το τσιπ επεξεργασίας σήματος FPGA χαμηλού θορύβου, υψηλής ταχύτητας.

• Υψηλή κβαντική απόδοση, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• Υψηλό SNR: Εξαιρετικά χαμηλός σκοτεινός θόρυβος υπό μακροχρόνια ολοκλήρωση, το SNR είναι τόσο υψηλό όσο 1000:1
• Καθαρή επεξεργασία χωρίς θόρυβο ασθενούς σήματος σε μακρά έκθεση, ισχυρή προσαρμογή στο περιβάλλον
• Κύκλωμα χαμηλού θορύβου και υψηλής ταχύτητας: USB3.0

Το φως που καθοδηγείται μέσω μιας ανιχνευτικής ίνας αντανακλάται στις επιφάνειες του φιλμ που βλέπουν τον αέρα και το υπόστρωμα. Το φασματόμετρο καταγράφει την παρεμβολή τους, από την οποία εξάγεται το πάχος (d) χρησιμοποιώντας τη μέθοδο ακροτάτων (θ, n και φασματικά ακρότατα). Τα πυκνότερα περιθώρια υποδεικνύουν μεγαλύτερο πάχος, ενώ τα μεγαλύτερα μήκη κύματος μειώνουν την πυκνότητα των περιθωρίων. Η κατάλληλη επιλογή φασματικού εύρους και ανάλυσης ενισχύει την πιστότητα της μέτρησης.

• Ανίχνευση φάσματος απορρόφησης, διαπερατότητας και ανάκλασης
• Χαρακτηρισμός πηγής φωτός και μήκους κύματος λέιζερ
• Μονάδα προϊόντος OEM: Φάσμα φθορισμού, φάσμα Raman κ.λπ.

Η JINSP Company Limited, συντομογραφία "JINSP", είναι ένας επαγγελματίας προμηθευτής με πάνω από 17 χρόνια εμπειρίας σε προϊόντα τεχνολογίας φασματικής ανίχνευσης, συμπεριλαμβανομένων των τεχνολογιών Raman, FT-IR, LIBS κ.λπ. Μετά από 17 χρόνια συσσώρευσης τεχνολογίας, οι βασικές βασικές τεχνολογίες της εταιρείας έχουν φτάσει στην διεθνή κορυφαία θέση στο επίπεδο και ο σωρευτικός αριθμός των αιτήσεων διπλωμάτων ευρεσιτεχνίας ξεπέρασε τις 200.

Εκτός από την έδρα της που βρίσκεται στην πολυσύχναστη πόλη του Πεκίνου, η JINSP έχει δημιουργήσει μια πλήρως θυγατρική μονάδα παραγωγής που βρίσκεται στην επαρχία Jiangsu της Κίνας.

Η JINSP Company έλαβε πιστοποιήσεις ISO9001:2015, ISO14001:2015 και ISO45001:2018. Η JINSP μπορεί να παρέχει τις απαιτούμενες πιστοποιήσεις, όπως πιστοποίηση από το Υπουργείο Δημόσιας Ασφάλειας ή το Εθνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας, Περιβαλλοντική Πιστοποίηση Επιπέδου, Πιστοποίηση Επιπέδου IP, Πιστοποίηση CE, Έκθεση Αναγνώρισης Μεταφοράς, πιστοποίηση EU ECAC, Γερμανική Δοκιμή Ασφάλειας ΤΠ, κ.λπ.