เครื่องวัดสเปกตรัมไฟเบอร์ออปติกแบบปรับแต่งได้สำหรับการจำแนกคุณสมบัติเลเซอร์ความเข้มข้น Numerical Aperture 0.13 2048*64 พิกเซลใช้งานจริง

UV-Vis-Nir Mastery ง่ายขึ้น: ช่วง 200-1100Nm ของ SR100Z ครอบคลุม 93% ของการใช้งานสเปกโทรสโกปีทั่วไป โครงสร้างด้านหลังที่ส่องสว่างช่วยลดการใช้แรเงาลวดทำให้ได้รับ 2 70% QE ที่ 300Nm - เหมาะสำหรับการหาปริมาณดีเอ็นเอและการศึกษาวัสดุ OLED

ด้วยความน่าเชื่อถือของการเลี้ยวเบนที่ผู้ใช้เปลี่ยนได้และการสอบเทียบความเข้มในตัวระบบนี้จะเติบโตตามความต้องการของคุณ CCD 64-row ช่วยให้การตรวจจับแบบหลายแทร็กที่เป็นนวัตกรรม-ตรวจสอบการย่อยสลายตัวอย่างในขณะที่วัดลำแสงอ้างอิงพร้อมกัน

• ความไวสูง: 78% ประสิทธิภาพควอนตัมสูงสุด, การเพิ่มประสิทธิภาพวงดนตรี UV
• ความละเอียดสูง: ตระหนักถึงความละเอียด <1.0nm@25um (200 ~ 875nm)
• ความยืดหยุ่นสูง: 200nm ~ 1100nm เข้ากันได้กับหลายอินเทอร์เฟซรวมถึง USB3.0, RS232 และ RS485

• ตรวจจับการดูดซึมการส่งผ่านและสเปกตรัมการสะท้อนกลับ
• โมดูลผลิตภัณฑ์ OEM: สเปกตรัมเรืองแสง, สเปกตรัมรามาน ฯลฯ

Jinsp Company Limited ย่อว่า "JINSP" เป็นซัพพลายเออร์มืออาชีพที่มีประสบการณ์มากกว่า 17 ปีในผลิตภัณฑ์เทคโนโลยีการตรวจจับสเปกตรัมรวมถึง Raman, FT-IR, LIBS Technologies ฯลฯ หลังจากการสะสมเทคโนโลยี 17 ปีเทคโนโลยีหลักของ บริษัท ได้ถึงระดับผู้นำระดับนานาชาติ

นอกเหนือจากสำนักงานใหญ่หลักที่ตั้งอยู่ในเมืองที่คึกคักของปักกิ่ง Jinsp ได้จัดตั้งโรงงานผลิตในเครือที่เป็นเจ้าของอย่างเต็มที่ซึ่งตั้งอยู่ในจังหวัดเจียงซูประเทศจีน

บริษัท Jinsp ได้รับ ISO9001: 2015, ISO14001: 2015 และ ISO45001: 2018 การรับรอง JINSP สามารถให้การรับรองที่จำเป็นเช่นการรับรองโดยกระทรวงความมั่นคงสาธารณะหรือสถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ, การรับรองระดับสิ่งแวดล้อม, การรับรองระดับ IP, การรับรอง CE, รายงานการระบุการขนส่ง, การรับรอง EU ECAC ของสหภาพยุโรป, การทดสอบความปลอดภัย ICT ของเยอรมัน ฯลฯ ฯลฯ