TE-gekoelde CCD-chip glasvezelspectrometer voor niet-destructieve filmdikte meting Spectrumbereik 200 nm 1100 nm

Het gebruik van dunne folies in de hightech industrie vereist geavanceerde methoden voor het beoordelen van de dikte.Door het combineren van spectrale analyse met machine learningIn het kader van de nieuwe technologieën krijgen fabrikanten een nauwkeurige controle over de eigenschappen van de folie, waardoor productinnovatie mogelijk wordt.

De JINSP SR100Q spectrometer integreert de Hamamatsu S7031, een wetenschappelijke klasse TE-gekoelde area array CCD chip. Met een pixelgrootte van 24 × 24 μm en kwantum efficiëntie tot 92%,Het levert een hoge respons in de ultraviolette band en verbetert de gevoeligheid en SNR voor zwakke signalenHet geavanceerde hoge-resolutie optische pad en de geruisarme, snelle FPGA-signaalverwerkingschip zorgen voor uitstekende spectrumsignalen en betrouwbare prestaties.

*Modellen die voornamelijk zijn ontworpen voor Raman-toepassingen, met overeenkomstige Raman-configuraties.

• Hoge kwantumefficiëntie: 92% piek @650nm, 83% @232nm
• Hoge SNR: ultralage donkere ruis onder lange integratietijd, SNR tot 1000:1
• Ruisvrije verwerking van zwakke signalen tijdens lange blootstelling met een sterke aanpassing aan het milieu
• Laag geluid en hoge snelheid met USB3.0-interface

Het licht dat via de glasvezel wordt verzonden, reflecteert op het bovenste en onderste oppervlak van de film, waardoor twee fasenschakelde stralen ontstaan.maakt dikte berekening mogelijk met behulp van de extremum methode met θOptimale metingen vereisen een goed spectrumbereik en een goede resolutie.

• Detectie van het absorptie-, transmittantie- en reflectiespectrum
• Lichtbron- en lasergolflengte-kenmerken
• OEM-productmodules: fluorescentie spectrum, Raman spectrum, enz.