Волоконно-оптический спектрометр с охлаждением TE-Cooled CCD-чипом для неразрушающего измерения толщины пленки. Спектральный диапазон 200 нм - 1100 нм
Основные характеристики
| Спектральный диапазон | 200 нм - 1100 нм |
| Эффективные пиксели | 1024×122 |
| Квантовая эффективность | Пик QE92% при 650 нм, 83% при 232 нм |
| Отношение сигнал/шум | 1000:1 |
Спектрометр с высокой квантовой эффективностью 92% для измерения толщины пленки
Широкое использование тонких пленок в высокотехнологичных отраслях требует передовых методов оценки толщины. Наша фотоэлектрическая технология обеспечивает неинвазивные, высокоэффективные протоколы измерения. Объединив спектральный анализ с машинным обучением, производители добиваются точного контроля свойств пленки, что позволяет внедрять инновации в продукцию.
Обзор продукта
Спектрометр JINSP SR100Q интегрирует научный CCD-чип Hamamatsu S7031 с охлаждением TE-Cooled. С размером пикселя 24×24 мкм и квантовой эффективностью до 92% он обеспечивает высокую чувствительность в ультрафиолетовом диапазоне, одновременно улучшая чувствительность и отношение сигнал/шум для слабых сигналов. Усовершенствованный оптический тракт высокого разрешения и малошумящий, высокоскоростной чип обработки сигналов FPGA обеспечивают превосходные спектральные сигналы и надежную производительность.
Подробные технические характеристики
| Характеристики детектора |
| Детектор | Тип чипа | Обратно освещенный Hamamatsu S7031 с охлаждением TE-Cooled |
| Эффективный пиксель | 1024×122 |
| Размер пикселя | 24×24 мкм |
| Область чувствительности | 24.576×2.928 мм |
| Оптические параметры |
| Оптическая конструкция | F/4 поперечного типа |
| Численная апертура | 0.13 |
| Фокусное расстояние | 100 мм |
| Ширина входной щели | 10 мкм, 25 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 200 мкм (настраивается) |
| Волоконный интерфейс | SMA905, свободное пространство |
| Электрические параметры |
| Время интегрирования | 8 мс-3600 с |
| Интерфейс вывода данных | USB3.0, RS232, RS485, 20-контактный разъем |
| Разрядность АЦП | 16-бит |
| Питание | 5 В |
| Рабочий ток | <3.5A |
| Физические параметры |
| Рабочая температура | 10℃~40℃ |
| Температура хранения | -20℃~60℃ |
| Рабочая влажность | <90% относительной влажности (без конденсации) |
| Размеры | 180 мм×120 мм×50 мм |
| Вес | 1.2 кг |
Варианты моделей продукции
| Модель | Спектральный диапазон (нм) | Разрешение (нм) | Щель (мкм) |
| SR100Q-G21 | 200~950 | 6.8 | 200 |
| SR100Q-G22 | 350~1100 | 2.2 | 50 |
| SR100Q-G23 | 200~775 | 1.6 | 50 |
| SR100Q-G24 | 350~925 | 1.0 | 25 |
| SR100Q-G25 | 532~690(4400cm-1)* | 13cm-1 | 50 |
| SR100Q-G26 | 638~800(3200cm-1)* | 10cm-1 | 25 |
| SR100Q-G27 | 785~1050(3200cm-1)* | 11cm-1 | 50 |
*Модели, в основном предназначенные для рамановских применений, с соответствующими рамановскими конфигурациями.
Технические преимущества
- Высокая квантовая эффективность: пик 92% при 650 нм, 83% при 232 нм
- Высокое отношение сигнал/шум: Сверхнизкий темновой шум при длительном времени интегрирования, отношение сигнал/шум до 1000:1
- Бесшумная обработка слабых сигналов при длительной экспозиции с высокой адаптацией к окружающей среде
- Малошумящая, высокоскоростная схема с интерфейсом USB3.0
Методология измерения
Свет, передаваемый по оптическому волокну, отражается от верхней и нижней поверхностей пленки, создавая два смещенных по фазе луча. Их интерференционный спектр, записанный спектрометром, позволяет рассчитать толщину с использованием метода экстремумов с данными θ, n и пиков/впадин. Более толстые пленки увеличивают частоту полос, а более длинные волны уменьшают ее. Оптимальное измерение требует правильного выбора спектрального диапазона и разрешения.
Типичные области применения
- Обнаружение спектра поглощения, пропускания и отражения
- Характеристика длины волны источника света и лазера
- Модули OEM-продуктов: спектр флуоресценции, спектр комбинационного рассеяния и т. д.
О компании JINSP
JINSP Company Limited ("JINSP") - профессиональный поставщик с более чем 17-летним опытом работы в области технологий спектрального обнаружения, включая технологии комбинационного рассеяния, FT-IR и LIBS. После 17 лет технологического развития наши основные технологии достигли международного уровня, с более чем 200 заявками на патенты.
Штаб-квартира JINSP находится в Пекине, компания имеет производственный объект в провинции Цзянсу, Китай. Мы поддерживаем сертификаты ISO9001:2015, ISO14001:2015 и ISO45001:2018 и можем предоставить дополнительные сертификаты, включая:
- Сертификация Министерства общественной безопасности или Национального института метрологии
- Сертификация экологического уровня
- Сертификация уровня IP
- Сертификация CE
- Отчет об идентификации транспорта
- Сертификация ЕС ECAC
- Тестирование безопасности немецких ИКТ
Часто задаваемые вопросы
В1: Я впервые использую этот продукт. Легко ли им управлять?
О1: Мы предоставляем руководство на английском языке и обучающее видео, чтобы помочь вам в работе со спектрометром. Наши технические специалисты также предлагают профессиональные сессии технической поддержки.
В2: Предлагаете ли вы обучение работе?
О2: Ваши технические специалисты могут пройти обучение на нашем заводе, или инженеры JINSP могут предоставить поддержку на месте, включая установку, обучение, отладку и техническое обслуживание.
В3: Какой у вас веб-сайт?
О3: Посетите нас по адресу: www.jinsptech.com
В4: Как насчет вашей гарантии качества?
О4: Наша команда контроля качества тщательно проверяет все товары перед отправкой. Мы можем предоставить фотографии проверки по запросу.
Ваше сообщение должно содержать от 20 до 3000 символов!