Mesure précise et non destructive de l'épaisseur de film Spectromètre à fibre optique Efficacité quantique 83% 232nm SNR 1000 1

La surveillance de l'épaisseur des couches minces est la pierre angulaire du contrôle qualité dans la fabrication des semi-conducteurs et des écrans. Les instruments photoélectriques offrent la solution idéale, combinant précision et préservation des couches délicates. Grâce à des diagnostics optiques intelligents, les industries disposent d'outils pour l'amélioration continue des processus et les développements révolutionnaires.

Le spectromètre JINSP SR100Q est intégré au Hamamatsu S7031, une puce CCD à matrice de surface refroidie par effet Peltier de qualité scientifique. Avec une taille de pixel allant jusqu'à 24*24µm et une excellente efficacité quantique allant jusqu'à 92 %, il assure une réponse élevée dans la bande ultraviolette et améliore efficacement la sensibilité et le SNR des signaux faibles. De plus, il peut réaliser d'excellents signaux spectraux et des performances stables et fiables basées sur le trajet optique haute résolution avancé et la puce de traitement du signal FPGA à faible bruit et à grande vitesse.

• Haut rendement quantique, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• SNR élevé : bruit sombre ultra-faible avec un temps d'intégration long, le SNR est aussi élevé que 1000:1
• Traitement clair sans bruit des signaux faibles en longue exposition, forte adaptation à l'environnement
• Circuit à faible bruit et à grande vitesse : USB3.0

La lumière incidente provenant de la sonde à fibre se réfléchit sur les surfaces supérieure et inférieure du film, générant des faisceaux interférents. Le spectromètre analyse leur spectre d'interférence, ce qui permet de calculer l'épaisseur (d) par la méthode des extrêmes (données θ, n et pic/creux). Une épaisseur plus importante resserre l'espacement des franges, tandis que des longueurs d'onde plus longues l'étendent. Des mesures précises nécessitent des réglages spectraux optimisés.

• Détecter l'absorption, la transmittance et le spectre de réflexion
• Caractérisation de la source lumineuse et de la longueur d'onde laser
• Module de produit OEM : spectre de fluorescence, spectre Raman, etc.

JINSP Company Limited, abrégé en "JINSP", est un fournisseur professionnel avec plus de 17 ans d'expérience dans les produits de technologie de détection spectrale, y compris les technologies Raman, FT-IR, LIBS, etc. Après 17 ans d'accumulation technologique, les technologies clés de base de l'entreprise ont atteint la position de leader international au niveau, et le nombre cumulé de demandes de brevets a dépassé 200.

En plus de son siège principal situé dans la ville animée de Pékin, JINSP a établi une usine de fabrication filiale à part entière située dans la province du Jiangsu, en Chine.

JINSP Company a reçu les certifications ISO9001:2015, ISO14001:2015 et ISO45001:2018. JINSP peut fournir les certifications requises, telles que la certification par le ministère de la Sécurité publique ou l'Institut national de métrologie, la certification de niveau environnemental, la certification de niveau IP, la certification CE, le rapport d'identification du transport, la certification EU ECAC, les tests de sécurité ICT allemands, etc.