正確で非破壊的な膜厚測定 光ファイバー分光計 量子効率 83% 232nm SNR 1000 1

薄膜厚さモニタリングは、半導体およびディスプレイ製造における品質管理の基盤を形成します。光電計器は、精密さと繊細な層の保存を組み合わせた理想的なソリューションを提供します。インテリジェントな光学診断を通じて、業界は継続的なプロセス改善と画期的な開発のためのツールを獲得します。

JINSP SR100Q分光計は、浜松S7031、科学グレードのTE冷却エリアアレイCCDチップと統合されています。最大24*24μmの画素サイズと最大92%の優れた量子効率により、紫外線帯での高い応答を保証し、弱い信号の感度とSNRを効果的に向上させます。さらに、高度な高解像度光路と低ノイズ、高速FPGA信号処理チップに基づいて、優れたスペクトル信号と安定した信頼性の高い性能を実現できます。

• 高量子効率、92%peak@650nm、83%@232nm
• 高SNR：長時間の積分時間下での超低暗ノイズ、SNRは1000:1と高い
• 長時間の露光における弱信号のノイズフリークリア処理、環境への強力な適応性
• 低ノイズで高速な回路：USB3.0

ファイバープローブからの入射光は、膜の上面と下面で反射し、干渉ビームを生成します。分光計は、それらの干渉スペクトルを分析し、極値法（θ、n、およびピーク/トラフデータ）を介して厚さ（d）の計算を可能にします。厚さが増すとフリンジ間隔が狭まり、波長が長くなると広がります。正確な測定には、最適化されたスペクトル設定が必要です。

• 吸収、透過率、反射スペクトルの検出
• 光源とレーザー波長の特性評価
• OEM製品モジュール：蛍光スペクトル、ラマンスペクトルなど

JINSP Company Limited（略称「JINSP」）は、ラマン、FT-IR、LIBS技術など、スペクトル検出技術製品において17年以上の経験を持つ専門サプライヤーです。17年間の技術蓄積を経て、同社の主要な中核技術は国際的なリーディングポジションに達し、特許出願の累計数は200件を超えました。

JINSPは、北京の賑やかな都市に本社を置くことに加えて、中国江蘇省に完全所有の子会社製造施設を設立しました。

JINSP Companyは、ISO9001:2015、ISO14001:2015、およびISO45001:2018の認証を取得しています。JINSPは、公安省または国立計量研究所による認証、環境レベル認証、IPレベル認証、CE認証、輸送識別レポート、EU ECAC認証、ドイツICTセキュリティテストなど、必要な認証を提供できます。