Revolusi analisis permukaan Anda dengan spektrometer serat optik untuk pengukuran ketebalan film

Di sektor yang bergantung pada lapisan film tipis, data ketebalan yang akurat memastikan fungsionalitas produk yang optimal. Sistem pengukuran fotolistrik menawarkan keseimbangan sempurna antara kecepatan dan keamanan. Ketika ditingkatkan dengan algoritma prediktif, teknologi ini memberdayakan produsen untuk mencapai standar efisiensi dan inovasi baru.

Spektrometer JINSP SR100Q diintegrasikan dengan Hamamatsu S7031, chip CCD array area kelas ilmiah yang didinginkan TE. Dengan ukuran piksel hingga 24*24μm dan efisiensi kuantum yang sangat baik hingga 92%, ia memastikan respons tinggi dalam pita ultraviolet dan secara efektif meningkatkan sensitivitas dan SNR dari sinyal lemah. Lebih lanjut, ia dapat mewujudkan sinyal spektrum yang sangat baik, dan kinerja yang stabil dan andal berdasarkan jalur cahaya resolusi tinggi yang canggih dan chip pemrosesan sinyal FPGA berkecepatan tinggi dan kebisingan rendah.

• Efisiensi kuantum tinggi, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• SNR Tinggi: Kebisingan gelap ultra-rendah di bawah waktu integrasi yang lama, SNR setinggi 1000:1
• Pemrosesan sinyal lemah yang jelas tanpa noise dalam eksposur yang lama, adaptasi yang kuat terhadap lingkungan
• Sirkuit kebisingan rendah dan kecepatan tinggi: USB3.0

Sistem menggunakan serat optik untuk memproyeksikan cahaya ke film, menciptakan pantulan pada batas atas dan bawahnya. Spektrum interferensi yang dihasilkan, yang diperoleh oleh spektrometer, memfasilitasi perhitungan ketebalan (d) melalui metode ekstremum (menggabungkan θ, n, dan puncak/palung spektral). Frekuensi fringe naik dengan ketebalan tetapi turun dengan panjang gelombang. Pembacaan yang akurat bergantung pada optimalisasi parameter spektral.

• Mendeteksi spektrum absorpsi, transmitansi, dan refleksi
• Karakterisasi sumber cahaya dan panjang gelombang laser
• Modul produk OEM: Spektrum fluoresensi, spektrum Raman, dll.

JINSP Company Limited, disingkat sebagai "JINSP", adalah pemasok profesional dengan pengalaman lebih dari 17 tahun dalam produk teknologi deteksi spektral, termasuk teknologi Raman, FT-IR, LIBS, dll. Setelah 17 tahun akumulasi teknologi, teknologi kunci inti perusahaan telah mencapai posisi terdepan internasional pada tingkat, dan jumlah kumulatif aplikasi paten melebihi 200.

Selain kantor pusatnya yang terletak di kota Beijing yang ramai, JINSP telah mendirikan fasilitas manufaktur anak perusahaan yang sepenuhnya dimiliki yang berlokasi di provinsi Jiangsu, China.

Perusahaan JINSP menerima sertifikasi ISO9001:2015, ISO14001:2015, dan ISO45001:2018. JINSP dapat menyediakan sertifikasi yang diperlukan, seperti sertifikasi oleh Kementerian Keamanan Publik atau Institut Metrologi Nasional, Sertifikasi Tingkat Lingkungan, Sertifikasi Tingkat IP, Sertifikasi CE, Laporan Identifikasi Transportasi, sertifikasi EU ECAC, Pengujian Keamanan TIK Jerman, dll.