Revolutionieren Sie Ihre Oberflächenanalyse mit einem Faseroptik-Spektrometer zur Schichtdickenmessung

In Branchen, die von Dünnschichtbeschichtungen abhängig sind, gewährleisten genaue Dickendaten eine optimale Produktfunktionalität. Fotoelektrische Messsysteme bieten die perfekte Balance zwischen Geschwindigkeit und Sicherheit. In Verbindung mit prädiktiven Algorithmen ermöglichen diese Technologien den Herstellern, neue Effizienz- und Innovationsstandards zu erreichen.

Das JINSP SR100Q Spektrometer ist mit dem Hamamatsu S7031 integriert, einem wissenschaftlichen TE-gekühlten Area-Array-CCD-Chip. Mit einer Pixelgröße von bis zu 24*24μm und einer hervorragenden Quanteneffizienz von bis zu 92 % gewährleistet es eine hohe Reaktion im Ultraviolettbereich und verbessert effektiv die Empfindlichkeit und das SNR schwacher Signale. Darüber hinaus kann es hervorragende Spektralsignale realisieren und eine stabile und zuverlässige Leistung basierend auf dem fortschrittlichen hochauflösenden Lichtweg und dem rauscharmen, Hochgeschwindigkeits-FPGA-Signalverarbeitungschip.

• Hohe Quanteneffizienz, 92 % Peak bei 650 nm, 83 % bei 232 nm
• Hohes SNR: Ultra-geringes Dunkelrauschen bei langer Integrationszeit, SNR ist bis zu 1000:1
• Rauschfreie, klare Verarbeitung schwacher Signale bei langer Belichtung, starke Anpassung an die Umgebung
• Rauscharme und Hochgeschwindigkeits-Schaltung: USB3.0

Das System verwendet eine Glasfaser, um Licht auf den Film zu projizieren, wodurch Reflexionen an seinen oberen und unteren Grenzen entstehen. Das resultierende Interferenzspektrum, das vom Spektrometer erfasst wird, erleichtert die Berechnung der Dicke (d) über die Extremwertmethode (unter Einbeziehung von θ, n und Spektralpeaks/-tälern). Die Frequenz der Streifen steigt mit der Dicke, fällt aber mit der Wellenlänge. Genaue Messwerte hängen von der Optimierung der Spektralparameter ab.

• Absorption, Transmission und Reflexionsspektrum erfassen
• Charakterisierung von Lichtquellen und Laserwellenlängen
• OEM-Produktmodul: Fluoreszenzspektrum, Raman-Spektrum usw.

JINSP Company Limited, abgekürzt als "JINSP", ist ein professioneller Anbieter mit über 17 Jahren Erfahrung in Produkten der Spektraldetektionstechnologie, einschließlich Raman-, FT-IR-, LIBS-Technologien usw. Nach 17 Jahren Technologieakkumulation haben die wichtigsten Schlüsseltechnologien des Unternehmens das internationale Spitzenniveau erreicht, und die kumulierte Anzahl der Patentanmeldungen überstieg 200.

Zusätzlich zum Hauptsitz in der geschäftigen Stadt Peking hat JINSP eine hundertprozentige Tochtergesellschaft mit Produktionsstätte in der Provinz Jiangsu, China, gegründet.

JINSP Company erhielt die Zertifizierungen ISO9001:2015, ISO14001:2015 und ISO45001:2018. JINSP kann erforderliche Zertifizierungen bereitstellen, wie z. B. Zertifizierungen des Ministeriums für öffentliche Sicherheit oder des Nationalen Instituts für Metrologie, Umweltzertifizierung, IP-Zertifizierung, CE-Zertifizierung, Transportidentifizierungsbericht, EU-ECAC-Zertifizierung, deutsche IKT-Sicherheitstests usw.