Zrewolucjonizuj Analizę Powierzchni za Pomocą Spektrometru Światłowodowego do Pomiaru Grubośći Warstw

W sektorach zależnych od powłok cienkowarstwowych, dokładne dane dotyczące grubości zapewniają optymalną funkcjonalność produktu. Systemy pomiaru fotoelektrycznego oferują idealną równowagę między szybkością a bezpieczeństwem. W połączeniu z algorytmami predykcyjnymi, technologie te umożliwiają producentom osiągnięcie nowych standardów wydajności i innowacji.

Spektrometr JINSP SR100Q jest zintegrowany z Hamamatsu S7031, chipem CCD z matrycą obszarową klasy naukowej, chłodzonym termoelektrycznie. Z rozmiarem piksela do 24*24μm i doskonałą wydajnością kwantową do 92%, zapewnia wysoką reakcję w paśmie ultrafioletowym i skutecznie poprawia czułość i SNR słabych sygnałów. Ponadto, może realizować doskonałe sygnały widmowe oraz stabilną i niezawodną wydajność w oparciu o zaawansowaną ścieżkę optyczną o wysokiej rozdzielczości oraz nisko-szumowy, szybki chip przetwarzania sygnału FPGA.

• Wysoka wydajność kwantowa, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• Wysoki SNR: Bardzo niski szum ciemny przy długim czasie integracji, SNR wynosi aż 1000:1
• Bezszumowe, wyraźne przetwarzanie słabego sygnału przy długiej ekspozycji, silne dostosowanie do środowiska
• Nisko-szumowy i szybki obwód: USB3.0

System wykorzystuje światłowód do projekcji światła na warstwę, tworząc odbicia na jej górnej i dolnej granicy. Powstałe widmo interferencyjne, uzyskane przez spektrometr, ułatwia obliczanie grubości (d) za pomocą metody ekstremów (uwzględniającej θ, n oraz piki/doliny widmowe). Częstotliwość prążków rośnie wraz z grubością, ale maleje wraz z długością fali. Dokładne odczyty zależą od optymalizacji parametrów widmowych.

• Wykrywanie absorpcji, transmisji i odbicia widma
• Charakterystyka źródła światła i długości fali lasera
• Moduł produktu OEM: widmo fluorescencji, widmo Ramana itp.

JINSP Company Limited, w skrócie "JINSP", jest profesjonalnym dostawcą z ponad 17-letnim doświadczeniem w produktach technologii detekcji spektralnej, w tym technologii Raman, FT-IR, LIBS itp. Po 17 latach akumulacji technologii, kluczowe technologie firmy osiągnęły wiodącą pozycję na świecie, a łączna liczba zgłoszeń patentowych przekroczyła 200.

Oprócz głównej siedziby w tętniącym życiem mieście Pekin, JINSP założyła w pełni zależny zakład produkcyjny zlokalizowany w prowincji Jiangsu w Chinach.

Firma JINSP otrzymała certyfikaty ISO9001:2015, ISO14001:2015 i ISO45001:2018. JINSP może dostarczyć wymagane certyfikaty, takie jak certyfikacja przez Ministerstwo Bezpieczeństwa Publicznego lub Narodowy Instytut Metrologii, Certyfikat Poziomu Środowiskowego, Certyfikat Poziomu IP, Certyfikat CE, Raport Identyfikacji Transportu, certyfikat UE ECAC, Niemieckie Testy Bezpieczeństwa ICT itp.