232nmで83%の量子効率を持つ高度光ファイバースペクトロメーター

電子機器,再生可能エネルギー,光学などのアプリケーションでは,薄膜技術は表面分析のために正確な厚さ評価に依存しています.光電測定ソリューションは接触のないものとして特徴ですインテリジェント・コンピューティングと光学システムの統合により,フィルムの品質管理が向上し,製造のアップグレードと技術的進歩が促進される.

注記:主にRamanアプリケーションのために設計され,対応するRamanが搭載されています.

• 高量子効率,92%ピーク@650nm, 83%@232nm
• 高SNR: 長い統合時間下で極低の暗黒ノイズ,SNRは1000まで高まります.1
• 長期間の露出で弱い信号の騒音のない透明処理,環境への適応力
• 低騒音で高速回路 USB30

光ファイバー探査機は光をフィルムに向かって導いて 部分的に空気フィルムインターフェース (最初のビーム) に反射しフィルムと基板の境界で再び反射する (第2光線)この2つのビームは,経路の違いにより干渉し,スペクトロメーターによって捕捉される干渉スペクトルを生成する.厚さ (d) は,θ,n,そしてスペクトル極限高厚さはフレンジ密度を増加させ,波長が短くなる.適切なスペクトル範囲と解像度選択は精度に不可欠である.

• 吸収,伝達,反射スペクトル
• 光源とレーザー波長の特徴
• OEM製品モジュール: 投光スペクトル,ラーマンスペクトルなど

JINSP Company Limitedは,Raman,FT-IR,LIBSなどのスペクトル検出技術製品で17年以上経験を持つプロのサプライヤーです.17年の技術蓄積の後企業の中核技術が国際的にリーダー地位に達し,累計特許出願数は200を超えました.

JINSP は,繁忙 な 北京 市 に ある 本社 に 加え,中国 江苏 州 に 完全 所属 の 子会社 の 製造 施設 を 設立 し て い ます.

JINSP社はISO9001を取得しました.2015ISO14001:2015,およびISO45001:2018認証.JINSPは,公共安全保障省または国家計量研究所による認証などの必要な認証を提供することができます.環境レベル認証,IPレベル認証,CE認証,輸送識別報告書,EUECAC認証,ドイツのICTセキュリティテストなど