F/4クロス型光学設計光ファイバースペクトロメーターによるフィルム厚さの正確な測定

半導体、PVパネル、ディスプレイ技術にとって不可欠な薄膜は、綿密な厚さモニタリングを必要とします。光電技術は、無害で高速な測定を通じてこのプロセスに革命をもたらします。最新のシステムは、光学機器とAIアルゴリズムを組み合わせて膜製造を最適化し、優れた品質を確保しながら、産業の進歩を加速させています。

• 高量子効率、92%peak@650nm、83%@232nm
• 高SNR：長積分時間下での超低暗ノイズ、SNRは1000:1にも達します
• 長時間の露光における弱信号のノイズフリークリア処理、環境への強力な適応性
• 低ノイズで高速な回路：USB3.0

光ファイバープローブからの光が膜に当たると、2つの反射が発生します。1つは空気と膜の表面で、もう1つは膜と基板の界面です。その結果生じるビームが干渉し、分光器によって検出されるスペクトルフリンジを生成します。光路差により、θ、n、およびスペクトルピークなどの入力を使用して、極値法による厚さ（d）の決定が可能になります。厚い膜はより狭いフリンジ間隔を示し、一方、長い波長はそれらを広げます。測定精度は、適切な波長と分解能の設定に依存します。

• 吸収、透過率、反射スペクトルの検出
• 光源とレーザー波長の特性評価
• OEM製品モジュール：蛍光スペクトル、ラマンスペクトルなど

JINSP Company Limited（略称「JINSP」）は、ラマン、FT-IR、LIBS技術など、スペクトル検出技術製品において17年以上の経験を持つ専門サプライヤーです。17年間の技術蓄積を経て、同社の主要な中核技術は国際的な最先端レベルに達し、特許出願の累計数は200件を超えました。

JINSPは、活気あふれる北京に本社を置くほか、中国江蘇省に完全子会社である製造施設を設立しています。

JINSP Companyは、ISO9001:2015、ISO14001:2015、およびISO45001:2018の認証を取得しています。JINSPは、公安省または国立計量研究所による認証、環境レベル認証、IPレベル認証、CE認証、輸送識別レポート、EU ECAC認証、ドイツICTセキュリティテストなど、必要な認証を提供できます。