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BA1024Ga USB 1920*1200 Optical Beam Profiler 280nm ~1100nm Lightweight

BA1024Ga USB 1920*1200 Profilador de feixe óptico 280nm ~ 1100nm Leve

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BA1024Ga USB 1920*1200 Profilador de feixe óptico 280nm ~ 1100nm Leve

Quantidade de ordem mínima :	1	Preço :	Negociável
Detalhes da embalagem :	Pacote de Envio Internacional	Tempo de entrega :	30 dias úteis
Termos de pagamento :	T/T	Habilidade da fonte :	100 unidades por 30 dias úteis

Lugar de origem:	China	Marca:	JINSP
Certificação:	CE ISO9001 IP30 IP40	Número do modelo:	BA1024Ga
Documento:	Folheto PDF do produto

Informação detalhada
Faixa de comprimento de onda:	280 nm-1100 nm	Dimensão:	78 * 45 * 38,5 mm (sem base)
Fornecimento de energia:	Alimentação por USB ou 12 V DC por energia externa	Área de detecção efetiva:	11 mm*7 mm
Sensor:	2.3MP, 1/1.2" CMOS	SNR:	40 dB
Tamanho da célula:	50,86 μm*5,86 μm	Área mínima de detecção:	30 μm (5 pixels)
Taxa de quadros máxima:	41 fps@1920*1200	Interface de dados:	USB3 Visão, GenlCam
Destacar:	Profilador de feixe óptico de 280 nm , Profilador de feixe óptico de 1100 nm

Descrição de produto

BA1024Ga USB 1920*1200 Perfilador de feixe óptico 280nm ~ 1100nm Leve

Especificações do produto

Atributo	Valor
Faixa de comprimento de onda	280 nm-1100 nm
Dimensão	78 * 45 * 38,5 mm (sem base)
Fornecimento de energia	Alimentação por USB ou 12 V DC a partir de energia externa
Área de detecção efetiva	11 mm*7 mm
Sensor	2.3MP, 1/1.2" CMOS
SNR	40 dB
Tamanho da célula	50,86 μm*5,86 μm
Área mínima de detecção	30 μm (5 pixels)
Taxa máxima de quadros	41 fps@1920*1200
Interface de dados	USB3 Visão, GenlCam

280 nm ~ 1100 nm CMOS USB Laser Beam Profiler

Tabela de selecção de produtos e parâmetros

Código do produto	BA1023	BA1024Ga	BA1024Gb	BA1024Ua	BA1024Ub
Faixa de comprimento de onda da sonda	280 nm ~ 1100 nm
Área de detecção efetiva	11 mm*7 mm	13 mm*8,7 mm	7 mm*5,5 mm	40,9 mm*3,7 mm
Sensor	2.3MP, 1/1.2" CMOS	20MP, CMOS de 1"	2MP, 1/1.7 " CMOS	0.4MP, 1/2.9 " CMOS
SNR	40 dB	440,9 dB	41.5 dB	430,7 dB	420,9 dB
Ganhar controlo	0~20 dB	0~24 dB
Tamanho da célula	50,86 μm*5,86 μm	20,4 μm*2,4 μm	40,5 μm*4,5 μm	60,9 μm*6,9 μm
Área mínima de detecção	30 μm (5 pixels)	12 μm (5 pixels)	22.5 μm (5 pixels)
Taxa máxima de quadros	41 fps@1920*1200	5.9 fps @5472*3648	90 fps @1624*1240	526.5 fps @720*540 Mono 8
Protecção de entrada	IP30	IP40
Interface de dados	USB	GigE	USB
Armazenamento de arquivos	jpg.mat.csv.xml
Componente de atenuação da luz	As opções inseríveis e de tipo barril estão disponíveis, compatíveis com filtros sem enquadramento de 1 polegada
Temperatura de armazenamento	-30°C ~ +70°C

Aplicações de perfis de feixe

Medição: Tamanho da mancha luminosa
Marcação: Posição do ponto luminoso
Comparando: A mudança no ponto de luz
Monitorização em tempo real

Principais funções do software

Compatível com Windows 10 (64-bit) e Linux (Ubuntu X86)
Controle da câmara, incluindo ajustes de exposição, ganho e resolução
Visualização pseudo-color em tempo real para representações de pontos 2D e 3D
Medição dos eixos de pontos de comprimento, largura, elipticidade e ângulo de rotação
Funções especiais, incluindo comparação de dois pontos em tempo real e corte de fundo
Capacidades de registo e exportação de dados

Funções de software

Reconstrução de pontos 2D e 3D

Instalação Gaussiana e Super-Gaussiana

Tesoura de fundo

Comparação em tempo real de dois feixes

Câmara de intensidade luminosa (opcional)

Aplicações

Medição da qualidade do feixe (parâmetro crítico para lasers em campos ópticos)
Investigação óptica, investigação de sistemas a laser e detecção da distribuição da energia luminosa
Monitorização em tempo real dos pontos luminosos durante o processamento
Monitorização da distribuição da intensidade luminosa (equivalente a câmara de intensidade luminosa)
Aplicações especializadas na fabricação de instrumentos

Exemplo: A indústria de impressão a laser utiliza perfis de feixe para projetar e fabricar unidades de varredura a laser (LSU), analisando o tamanho do feixe, a matriz e o impacto do balanço para otimização da impressora.

Perguntas Frequentes

P1: É a primeira vez que o uso, é fácil de operar?

A1: Fornecemos um manual em inglês e um vídeo de guia, juntamente com suporte técnico profissional de nossos engenheiros.

P2: Pode oferecer formação operacional?

A2: O treinamento está disponível em nossa fábrica ou podemos fornecer suporte no local, incluindo instalação, treinamento, depuração e manutenção.

Q3: Como receber o melhor preço no menor tempo possível?

A3: Forneça especificações pormenorizadas ( comprimento de onda, detector, pixels, distância focal, etc.) para um orçamento rápido.

P4: Se o espectrômetro tiver um problema em minha casa, o que posso fazer?

R4: O produto inclui uma garantia de um ano com reparações gratuitas por defeitos de fabrico.

Q5: Que tal a garantia de qualidade?

A5: Todos os produtos são submetidos a uma inspecção rigorosa da qualidade antes da expedição, com documentação fornecida.

etiqueta:

Espectrômetro Raman portátil(89)

Analisador de gás raman(32)

Instrumentos de processo do analisador Raman(35)

Espectrômetro CMOS compacto(49)

Espectrômetro de fibra óptica(53)

Espectrômetro de infravermelho próximo(38)

Espectrômetro Raman Modular(37)

Analisador LIBS portátil(10)

Profilador de feixe CMOS(8)

Laser pulsado de nanossegundos(5)

Laser de oscilador de anel não planeador(6)

Sonda Raman e célula de fluxo(8)

Espectrômetro de Raman(13)

Espectrômetro FTIR(13)

Espectrômetro TEO(13)

BA1024Ga USB 1920*1200 Profilador de feixe óptico 280nm ~ 1100nm Leve

Profilador de feixe óptico de 280 nm

Profilador de feixe óptico de 1100 nm

Profilador de feixe de laser 30 μm

Profilador de feixe de 30 μm

Analisador de feixe de laser de 280 nm

A JINSP Company Limited é um fornecedor profissional com mais de 17 anos de experiência no desenvolvimento e fabricação de produtos de tecnologia de detecção espectral.