
Gekühlter Detektor-Glasfaser-Spektrometer mit SMA905-Faseranschluss 200-1100 nm Pixelgröße 28,672 * 0,896 mm
ContPerson : Phoebe Yu
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Min Bestellmenge : | 1 | Preis : | Verhandlungsfähig |
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Verpackung Informationen : | Internationales Versandpaket | Lieferzeit : | 30 bis 400 Arbeitstage |
Zahlungsbedingungen : | T/T, Western Union | Versorgungsmaterial-Fähigkeit : | 100PCS/30-40 Tage |
Herkunftsort: | China | Markenname: | JINSP |
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Zertifizierung: | ISO9001 CE | Modellnummer: | SR100Z |
Dokument: | Produktbroschüre PDF |
Detailinformationen |
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Spektralbereich: | 200 nm - 1100 nm | Effektive Pixel: | 2048*64 |
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Pixel-Größe: | 28.672*0.896mm | Faser-Schnittstelle: | SMA905, freier Platz. |
Numerische Öffnung: | 0.13 | Brennweite: | 100 mm |
Abmessungen: | 180 mm*120 mm*50 mm | Gewicht: | 1.2 kg |
Hervorheben: | 200 nm Faseroptisches Spektrometer,0.14nm Fiber Optic Spectrometer,14 nm Faseroptisches Spektrometer |
Produkt-Beschreibung
Eigenschaft | Wert |
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Spektralbereich | 200 nm - 1100 nm |
Effektive Pixel | 2048*64 |
Pixelgröße | 28.672*0.896mm |
Faseroberfläche | SMA905, freier Platz. |
Numerische Öffnung | 0.13 |
Brennweite | 100 mm |
Abmessungen | 180 mm*120 mm*50 mm |
Gewicht | 1.2 kg |
Die 2048-Element-Array des Hamamatsu S11850 Sensors bietet eine Wellenlängen-Auflösung von bis zu 0,1 nm.Während seine 14x14μm-Pixel die Bandbreite für Glasfasereingänge optimierenDas aktive Kühlsystem reduziert den dunklen Strom um 90% im Vergleich zu ungekühlten Wettbewerbern.
Von der pharmazeutischen Qualitätskontrolle bis zur Halbleiterwaferinspektion profitieren die Anwender von doppelten Leistungsvorteilen: Hochgeschwindigkeits-Scannen (20 Spektren/Sekunde) über USB 3.0 Konnektivität und optische Stabilität in Laborqualität durch starre innere Strukturen.
Detektor | Typ des Chips | Zurückbeleuchtete TE-Kühlung Hamamatsu S11850 |
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Effektives Pixel | 2048*64 | |
Pixelgröße | 14*14 μm | |
Sensorbereich | 28.672*0.896mm | |
Optische Parameter | ||
Optisches Design | F/4 Kreuzart | |
Numerische Öffnung | 0.13 | |
Brennweite | 100 mm | |
Eintrittsschlitzbreite | 10 μm, 25 μm, 50 μm, 100 μm, 200 μm (anpassen) | |
Faseroberfläche | SMA905, freier Platz. | |
Elektrische Parameter | ||
Integrationszeit | 4 ms bis 900 s | |
Datenausgabe-Schnittstelle | USB3 ist da.0, RS232, RS485, 20-Pin-Anschluss | |
ADC-Bittiefe | 16 Bit | |
Stromversorgung | 5V | |
Betriebsstrom | < 3,5 A | |
Physikalische Parameter | ||
Betriebstemperatur | 10 °C ~ 40 °C | |
Speichertemperatur | -20 °C bis 60 °C | |
Betriebsfeuchtigkeit | < 90% RH (keine Kondensation) | |
Abmessungen | 180 mm*120 mm*50 mm | |
Gewicht | 1.2 kg |
Modell | Spektralbereich (nm) | Auflösung (nm) | Schlitz (μm) |
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Einheit für die Bereitstellung von Daten | 200 bis 1100 | 2.2 nm 1.5 nm 1.0 nm | 50 μm 25 μm 10 μm |
Einheit für die Bereitstellung von Daten Einheit für die Bereitstellung von Daten | 200 bis 875 350 bis 1025 | 10,6 nm 1.0 nm 00,7 nm | 50 μm 25 μm 10 μm |
Einheit für die Bereitstellung von Daten | 200 bis 345 | 0.35nm 0.2 nm 0.14nm | 50 μm 25 μm 10 μm |
Einheitliche Prüfungen | 532 ~ 720 ((4900cm-1*) | 13 cm-1 | 50 μm |
Einheit für die Bereitstellung von Daten | 638 ~ 830 ((3200cm-1) | 10 cm-1 | 25 μm |
Einheitliche Prüfungen | 785 ~ 1080 ((3200cm-1) | 11 cm-1 | 50 μm |
Anmerkung:Die *-Modelle sind in erster Linie für Raman-Anwendungen mit dem entsprechenden Raman konzipiert.
JINSP Company Limited, abgekürzt als "JINSP", ist ein professioneller Lieferant mit über 17 Jahren Erfahrung in Spektraldetektierungstechnologieprodukten, einschließlich Raman-, FT-IR-, LIBS-Technologien usw.Nach 17 Jahren Technologieansammlung, haben die Kerntechnologien des Unternehmens die internationale Führungsposition erreicht, und die kumulative Anzahl der Patentanmeldungen überstieg 200.
Zusätzlich zu ihrem Hauptsitz in der geschäftigen Stadt Peking hat JINSP eine in vollem Eigentum befindliche Tochtergesellschaft in der Provinz Jiangsu, China, gegründet.
Die JINSP-Firma erhielt die ISO9001:2015, ISO14001:2015JINSP kann die erforderlichen Zertifizierungen, wie z. B. die Zertifizierung durch das Ministerium für öffentliche Sicherheit oder das Nationale Institut für Metrologie, zur Verfügung stellen.Zertifizierung auf Umweltniveau, IP-Level-Zertifizierung, CE-Zertifizierung, Transport-Identifikationsbericht, EU-ECAC-Zertifizierung, deutsche IKT-Sicherheitstests usw.
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