Genaue Filmdickenmessung mit F/4-Optischem Spektrometer

Für Halbleiter, PV-Paneele und Display-Technologie ist die Überwachung der Dicke von dünnen Filmen unerlässlich. Photoelektrische Techniken revolutionieren diesen Prozess durch harmlose, Hochgeschwindigkeitsmessungen. Moderne Systeme kombinieren optische Instrumente mit KI-Algorithmen, um die Filmproduktion zu optimieren und so eine überlegene Qualität zu gewährleisten und gleichzeitig den industriellen Fortschritt zu beschleunigen.

• Hohe Quanteneffizienz, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• Hohes SNR: Ultra-geringes Dunkelrauschen bei langer Integrationszeit, SNR ist bis zu 1000:1
• Rauschfreie, klare Verarbeitung schwacher Signale bei langer Belichtung, starke Anpassung an die Umgebung
• Rauscharme und Hochgeschwindigkeits-Schaltung: USB3.0

Wenn Licht von der Glasfaser-Sonde auf den Film trifft, treten zwei Reflexionen auf: eine an der Luft-Film-Oberfläche und eine andere an der Film-Substrat-Grenzfläche. Die resultierenden Strahlen interferieren und erzeugen Spektralstreifen, die vom Spektrometer detektiert werden. Die optische Weglängendifferenz ermöglicht die Bestimmung der Dicke (d) unter Verwendung der Extremwertmethode, mit Eingaben wie θ, n und Spektralpeaks. Dickere Filme weisen eine engere Streifenabstände auf, während längere Wellenlängen sie ausbreiten. Die Messgenauigkeit hängt von den geeigneten Wellenlängen- und Auflösungseinstellungen ab.

• Detektion von Absorptions-, Transmissions- und Reflexionsspektrum
• Charakterisierung von Lichtquellen und Laserwellenlängen
• OEM-Produktmodul: Fluoreszenzspektrum, Raman-Spektrum usw.

JINSP Company Limited, abgekürzt als "JINSP", ist ein professioneller Anbieter mit über 17 Jahren Erfahrung in Produkten der Spektraldetektionstechnologie, einschließlich Raman-, FT-IR-, LIBS-Technologien usw. Nach 17 Jahren Technologieakkumulation haben die wichtigsten Schlüsseltechnologien des Unternehmens das international führende Niveau erreicht, und die kumulierte Anzahl der Patentanmeldungen überstieg 200.

Zusätzlich zum Hauptsitz in der geschäftigen Stadt Peking hat JINSP eine hundertprozentige Tochtergesellschaft mit Produktionsstätte in der Provinz Jiangsu, China, gegründet.

JINSP Company erhielt die Zertifizierungen ISO9001:2015, ISO14001:2015 und ISO45001:2018. JINSP kann die erforderlichen Zertifizierungen bereitstellen, wie z. B. Zertifizierungen des Ministeriums für öffentliche Sicherheit oder des Nationalen Instituts für Metrologie, Umweltzertifizierung, IP-Zertifizierung, CE-Zertifizierung, Transportidentifizierungsbericht, EU-ECAC-Zertifizierung, deutsche ICT-Sicherheitstests usw.