Diametro spettrale Spettometro a fibra ottica da 200 nm a 1100 nm per la misurazione dello spessore della pellicola in dispositivi di optoelettronica ed energia

Man mano che i film sottili diventano componenti essenziali nei dispositivi optoelettronici e energetici, la misurazione accurata dello spessore è fondamentale. Le nostre soluzioni fotoelettriche forniscono una misurazione senza contatto che elimina i rischi di danno, fornendo una precisione superiore attraverso algoritmi adattivi avanzati.

Nota: i modelli contrassegnati con * sono progettati principalmente per le applicazioni Raman.

• Alta efficienza quantistica: picco del 92% a 650 nm, 83% a 232 nm
• Rapporto segnale-rumore superiore: rumore scuro ultra-basso con SNR fino a 1000: 1
• Elaborazione avanzata del segnale: chiara rilevazione di segnali deboli durante lunghe esposizioni con un forte adattamento ambientale
• Trasferimento di dati ad alta velocità: interfaccia USB3.0 con circuiti a basso rumore

La sonda in fibra ottica fornisce luce al film, producendo riflessi ai confini del film d'aria e del substrato di film. Lo spettrometro cattura il modello di interferenza formato da questi raggi, da cui lo spessore (d) viene derivato tramite il metodo estremo (usando le caratteristiche θ, n e spettrali). La spaziatura della frangia varia con spessore (inversamente con lunghezza d'onda), che richiede parametri spettrali su misura per l'accuratezza.

• Analisi dello spettro di assorbimento, trasmittanza e riflessione
• Caratterizzazione della lunghezza d'onda della sorgente luminosa e laser
• Moduli OEM per fluorescenza e spettroscopia Raman