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光電子機器およびエネルギー機器におけるフィルム厚さの測定のための光ファイバー光学スペクトロメーター

最小注文数量 : 1 価格 : 交渉可能
パッケージの詳細 : 国際 輸送 包装 受渡し時間 : 90-120仕事日
支払条件 : T/T,ウェスタン・ユニオン 供給の能力 : 100PCS/90-120 日
起源の場所: 中国 ブランド名: JINSP
証明: ISO9001 モデル番号: SR100Q
文書: 製品説明書 PDF

詳細情報

スペクトル範囲: 200nm~1100nm 効果的なピクセル: 1024*122
Qutuam 効率性: QE92%ピーク@650nm, 83%@232nm SNR: 1000:1
ハイライト:

オプトエレクトロニクス 光ファイバースペクトロメーター

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200nm 1100nm 光ファイバースペクトロメーター

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エネルギー装置 光ファイバースペクトロメーター

製品の説明

膜厚測定用スペクトル範囲200nm~1100nmファイバーオプティクス分光計
主な仕様
属性
スペクトル範囲 200nm~1100nm
有効画素数 1024*122
量子効率 QE92%peak@650nm、83%@232nm
SNR 1000:1
精密膜厚測定用高性能分光計

薄膜が光電子工学およびエネルギーデバイスに不可欠なコンポーネントになるにつれて、正確な膜厚測定が重要になります。当社の光電ソリューションは、非接触測定を提供し、損傷のリスクを排除しながら、高度な適応アルゴリズムを通じて優れた精度を実現します。

詳細な技術パラメータ
カテゴリ パラメータ
検出器 チップタイプ 裏面照射型TE冷却Hamamatsu S7031
有効画素数 1024*122
画素サイズ 24*24μm
受光面積 24.576*2.928mm
光学パラメータ 光学設計 F/4クロスタイプ
開口数 0.13
焦点距離 100mm
入射スリット幅 10μm、25μm、50μm、100μm、200μm(カスタマイズ可能)
ファイバーインターフェース SMA905、自由空間
電気的パラメータ 積分時間 8ms~3600s
データ出力インターフェース USB3.0、RS232、RS485、20ピンコネクタ
ADCビット深度 16ビット
電源 5V
動作電流 <3.5A
物理的パラメータ 動作温度 10℃~40℃
保管温度 -20℃~60℃
動作湿度 <90%RH(結露なし)
寸法 180mm*120mm*50mm
重量 1.2kg
利用可能なモデル
モデル スペクトル範囲(nm) 分解能(nm) スリット(μm)
SR100Q-G21 200~950 6.8 200
SR100Q-G22 350~1100 2.2 50
SR100Q-G23 200~775 1.6 50
SR100Q-G24 350~925 1.0 25
SR100Q-G25 532~690(4400cm-1*) 13cm-1 50
SR100Q-G26 638~800(3200cm-1*) 10cm-1 25
SR100Q-G27 785~1050(3200cm-1*) 11cm-1 50

注:*の付いたモデルは、主にラマンアプリケーション向けに設計されています。

技術的利点
  • 高い量子効率:650nmで92%ピーク、232nmで83%
  • 優れた信号対雑音比:SNR最大1000:1の超低暗ノイズ
  • 高度な信号処理:強い環境適応性により、長時間の露光中に弱い信号をクリアに検出
  • 高速データ転送:低ノイズ回路を備えたUSB3.0インターフェース
測定方法

光ファイバープローブは光を膜に届け、空気-膜および膜-基板の境界で反射を生成します。分光計は、これらのビームによって形成された干渉パターンをキャプチャし、そこから厚さ(d)が極値法(θ、n、およびスペクトル特性を使用)を介して導き出されます。フリンジ間隔は厚さによって変化し(波長に反比例)、精度には調整されたスペクトルパラメータが必要になります。

光電子機器およびエネルギー機器におけるフィルム厚さの測定のための光ファイバー光学スペクトロメーター 0
一般的なアプリケーション
  • 吸収、透過率、反射スペクトル分析
  • 光源およびレーザー波長特性評価
  • 蛍光およびラマン分光法用OEMモジュール
光電子機器およびエネルギー機器におけるフィルム厚さの測定のための光ファイバー光学スペクトロメーター 1 光電子機器およびエネルギー機器におけるフィルム厚さの測定のための光ファイバー光学スペクトロメーター 2 光電子機器およびエネルギー機器におけるフィルム厚さの測定のための光ファイバー光学スペクトロメーター 3
JINSPについて

JINSP Company Limitedは、ラマン、FT-IR、LIBS技術を含む、スペクトル検出技術製品において17年以上の経験を持つ専門サプライヤーです。当社のコアテクノロジーは国際的に最先端のレベルに達しており、200件以上の特許出願があります。

中国江蘇省に製造施設を持つ北京に本社を置き、JINSPはISO9001:2015、ISO14001:2015、およびISO45001:2018の認証を取得しています。CE認証、EU ECAC認証、およびドイツICTセキュリティテストを含む、さまざまな必要な認証を提供できます。

よくある質問
Q1:初めてのユーザーでもこの分光計は簡単に操作できますか?
A1:包括的な英語マニュアルと説明ビデオ、および当社のエンジニアによる専門的な技術サポートを提供しています。
Q2:操作トレーニングは提供していますか?
A2:当社の施設でのオンサイトトレーニングと、設置、トレーニング、およびメンテナンスサポートのためにエンジニアを貴社に派遣することができます。
Q3:あなたのウェブサイトは何ですか?
A3:www.jinsptech.comをご覧ください
Q4:どのような品質保証を提供していますか?
A4:すべての製品は出荷前に厳格な品質検査を受け、リクエストに応じてドキュメントと写真を提供しています。

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