Espectrómetro de Fibra Óptica de Rango Espectral 200nm - 1100nm para Medición de Espesor de Películas en Optoelectrónica y Dispositivos de Energía

A medida que las películas delgadas se convierten en componentes esenciales en la optoelectrónica y los dispositivos de energía, la medición precisa del espesor es fundamental. Nuestras soluciones fotoeléctricas proporcionan una medición sin contacto que elimina los riesgos de daño al tiempo que ofrece una precisión superior a través de algoritmos adaptativos avanzados.

Nota: Los modelos marcados con * están diseñados principalmente para aplicaciones Raman.

• Alta eficiencia cuántica: 92% pico a 650nm, 83% a 232nm
• Relación señal-ruido superior: Ruido oscuro ultrabajo con SNR de hasta 1000:1
• Procesamiento de señal avanzado: Detección clara de señales débiles durante exposiciones prolongadas con una fuerte adaptación ambiental
• Transferencia de datos de alta velocidad: Interfaz USB3.0 con circuitos de bajo ruido

La sonda de fibra óptica entrega luz a la película, produciendo reflexiones en los límites aire-película y película-sustrato. El espectrómetro captura el patrón de interferencia formado por estos haces, del cual se deriva el espesor (d) mediante el método del extremo (usando θ, n y características espectrales). El espaciamiento de las franjas varía con el espesor (inversamente con la longitud de onda), lo que requiere parámetros espectrales adaptados para la precisión.

• Análisis del espectro de absorción, transmitancia y reflexión
• Caracterización de la longitud de onda de la fuente de luz y el láser
• Módulos OEM para espectroscopía de fluorescencia y Raman