Contacteer ons

Contact Persoon : Phoebe Yu

Telefoonnummer : 8618620854039

WhatsApp : +8618620854039

30μM / 5 Pixls Compact Beam Profiler The Perfect Tool For Advanced Laser Characterization

30μM / 5 pixels Compact Beam Profiler Het perfecte hulpmiddel voor geavanceerde laserkarakterisering

Contact nu

30μM / 5 pixels Compact Beam Profiler Het perfecte hulpmiddel voor geavanceerde laserkarakterisering

Min. bestelaantal :	1	Prijs :	Onderhandelbaar
Verpakking Details :	1pc/doos	Levertijd :	30 werkdagen
Betalingscondities :	T/T	Levering vermogen :	20pcs per maand

Plaats van herkomst:	China	Merknaam:	JINSP
Certificering:	CE ISO9001 IP30 IP40	Modelnummer:	BA1023
Document:	Productenbrochure PDF

Gedetailleerde informatie
Dimensie:	78 * 45 * 38,5 mm (zonder basis)	Maximumframesnelheid:	41 fps@1920*1200
Gegevensinterface:	USB3 Vision, GenlCam	Stroomvoorziening:	USB-aangedreven of 12 V gelijkstroom aan externe kracht
Minimaal detectiegebied:	30 μm (5 pixels)
Markeren:	Compacte balkprofieler , 30 μm straalprofieler , 5 pixels laserstraalprofieler

Productomschrijving

30μM / 5 pixel Compact Beam Profiler - Het perfecte hulpmiddel voor geavanceerde laserkarakterisering

Belangrijkste specificaties

Afmetingen: 78 × 45 × 38,5 mm (zonder basis)
Maximale beeldsnelheid: 41 Fps@1920×1200
Gegevensinterface: USB3 Vision, GenlCam
Stroomvoorziening: USB-aangedreven of 12V gelijkstroom aan externe kracht
Minimaal detectiegebied: 30 μm (5 pixels)

Productoverzicht

De BA1023 USB 1920×1200 CMOS 280nm ~ 1100nm Laser Beam Spot Analysis is een precisie-instrument dat is ontworpen voor geavanceerde laserkarakterisering.Deze compacte straalprofieler biedt een uitzonderlijke nauwkeurigheid met een signaal-geluidsverhouding van 40 dB, waardoor het ideaal is voor onderzoek, productie en industriële toepassingen die nauwkeurige lasermetingen vereisen.

Belangrijkste kenmerken

Realtime vergelijking van dubbele lichtvlekken voor de analyse van zij-aan-zijstraling
Aftrek van de achtergrond om lawaai te elimineren en de meetnauwkeurigheid te verbeteren
Geïntegreerde lichtsterktecamera voor nauwkeurige lichtsterkte-meting
Compact ontwerp met USB- of 12V gelijkstroomopties
Een jaar garantie met gratis reparatie

Technische specificaties

Productcode	BA1023	BA1024Ga	BA1024Gb	BA1024Ua	BA1024Ub
Stroomlengte van de sonde	280 nm ~ 1100 nm
Effectief detectiegebied	11 mm × 7 mm	13 mm × 8,7 mm	7 mm × 5,5 mm	4.9 mm × 3,7 mm	-
Sensor	2.3MP, 1/1.2" CMOS	20MP, 1" CMOS	2 MP, 1/1.7 " CMOS	0.4MP, 1/2.9" CMOS	-
SNR	40 dB	440,9 dB	41.5 dB	430,7 dB	420,9 dB

Toepassingen

De JINSP BA1023-straalprofieler is essentieel voor:

Laserproductieprocessen (lassen, snijden, boren)
Onderzoek en ontwikkeling van lasertechnologieën
Medische toepassingen voor laserbehandeling
Militaire en defensielasersystemen

Ondersteuning en diensten

Ons uitgebreide ondersteuningspakket omvat:

Installatie- en installatiehulp
Probleemoplossing en technische ondersteuning
Regelmatige software-updates
Opleidingsmiddelen
Reparatie- en vervangingsdiensten

Vaak gestelde vragen

V1: Wat is de merknaam van deze straalprofieler?

De merknaam is JINSP.

V2: Wat is het modelnummer?

A2: Het modelnummer is BA1023.

V4: Wat zijn de betalingsvoorwaarden?

A4: Betalingsvoorwaarden zijn T/T.

V5: Wat is de levertijd?

A5: Levertijd 30 werkdagen.

label:

Draagbare Raman-spectrometer(89)

Raman-gasanalyseur(32)

Raman-analysatorprocesinstrumenten(35)

Compacte CMOS-spectrometer(49)

Glasvezelspectrometer(53)

Dichtbij-infrarood spectrometer(38)

Modulaire Raman spectrometer(37)

Draagbare LIBS-analysator(10)

CMOS-straalprofieler(8)

Nanoseconde gepulseerde laser(5)

Nonplanner Ring Oscillator Laser(6)

Raman Probe en Flow Cell(8)

Desktop Raman Spectrometer(13)

FTIR-spectrometer(13)

OCT-spectrometer(13)

30μM / 5 pixels Compact Beam Profiler Het perfecte hulpmiddel voor geavanceerde laserkarakterisering

Compacte balkprofieler

30 μm straalprofieler

5 pixels laserstraalprofieler

laserstraalprofieler 30 μm

30 μm straalprofieler

280 nm laserstraal analysator

JINSP Company Limited is een professionele leverancier met meer dan 17 jaar ervaring op het gebied van productontwikkeling en productie van spectrale detectietechnologie.