Contacteer ons

Contact Persoon : Phoebe Yu

Telefoonnummer : 8618620854039

WhatsApp : +8618620854039

280nm-1100nm CMOS Beam Profiler Windows 10 64bit And Linux Ubuntu X86 Compatible

Contact nu

280nm-1100nm CMOS Beam Profiler Windows 10 64bit En Linux Ubuntu X86 Compatibel

Min. bestelaantal :	1	Prijs :	Onderhandelbaar
Verpakking Details :	1pc/doos	Levertijd :	30 werkdagen
Betalingscondities :	T/T	Levering vermogen :	20pcs per maand

Plaats van herkomst:	China	Merknaam:	JINSP
Certificering:	CE ISO9001 IP30 IP40	Modelnummer:	BA1023
Document:	Productenbrochure PDF

Gedetailleerde informatie
Effectief detectiegebied:	11 mm*7 mm	Gegevensinterface:	USB3 Vision, GenlCam
Dimensie:	78 * 45 * 38,5 mm (zonder basis)	Stroomvoorziening:	USB-aangedreven of 12 V gelijkstroom aan externe kracht
Golflengtebereik:	280 nm-1100 nm	Grootte van de cel:	50,86 μm*5,86 μm
Ondersteuning van besturingssystemen:	Windows 10 ((64bit) en Linux ((Ubuntu X86)	Maximumframesnelheid:	41 fps@1920*1200
Markeren:	1100 nm CMOS-straalprofieler , 280 nm CMOS-straalprofieler , 280 nm laserstraal analysator

Productomschrijving

280nm-1100nm CMOS Straalprofielmeter Windows 10 64bit en Linux Ubuntu X86 Compatibel

Productoverzicht

De BA1023 USB 1920x1200 CMOS 280nm~1100nm Laserstraal Spot Analyzer biedt precieze meting van laserstraal spotgrootte, vorm en intensiteit met real-time vergelijkingsmogelijkheden, achtergronduitsnijding en lichtintensiteit camerafunctionaliteit.

Belangrijkste specificaties

Attribuut	Waarde
Effectief detectiegebied	11mm × 7mm
Data-interface	USB3 Vision, GenlCam
Afmetingen	78 × 45 × 38.5mm (zonder basis)
Voeding	USB-voeding of 12V DC extern
Golflengtebereik	280nm-1100nm
Celgrootte	5.86μm × 5.86μm
Ondersteunde besturingssystemen	Windows 10 (64bit) en Linux (Ubuntu X86)
Maximale framesnelheid	41 Fps@1920×1200

Producteigenschappen

Hoge resolutie 2.3MP CMOS-sensor voor gedetailleerde straalprofilering
Real-time vergelijkingsmogelijkheid voor dubbele lichtvlekken
Achtergronduitsnijding en lichtintensiteitsmeting
USB3 Vision en GenlCam compatibele interface
Compact ontwerp met flexibele voedingsopties
Compatibel met Windows 10 en Linux-systemen

Productmodellen

Model	BA1023	BA1024Ga	BA1024Gb	BA1024Ua	BA1024Ub
Sensor	2.3MP, 1/1.2" CMOS	20MP, 1" CMOS	2MP, 1/1.7" CMOS	0.4MP, 1/2.9" CMOS	0.4MP, 1/2.9" CMOS
Effectief gebied	11mm×7mm	13mm×8.7mm	7mm×5.5mm	4.9mm×3.7mm	4.9mm×3.7mm
Max. framesnelheid	41 fps@1920×1200	5.9 fps@5472×3648	90 fps@1624×1240	526.5 fps@720×540	526.5 fps@720×540

Productafbeeldingen

Toepassingen

De BA1023 Straalprofielmeter is ideaal voor:

Nauwkeurige meting van de kwaliteit van laserstralen
Optisch onderzoek en ontwikkeling
Bewaking van de prestaties van lasersystemen
Real-time verwerking van spotanalyse
Meting van de lichtintensiteitsverdeling

Ondersteuning & Services

Installatiehulp en probleemoplossing
Software-updates en technische documentatie
Kalibratie- en onderhoudsdiensten
Uitgebreide gebruikerstraining
Garantie- en reparatieservices

Veelgestelde vragen

Wat is de merknaam van de straalprofielmeter?

JINSP

Wat is het modelnummer?

BA1023

Wat is de minimale bestelhoeveelheid?

1 eenheid

Wat zijn de betalingsvoorwaarden?

T/T (Telegrafische overschrijving)

Wat is de levertijd?

30 werkdagen

label:

Draagbare Raman-spectrometer(94)

Raman-gasanalyseur(37)

Raman-analysatorprocesinstrumenten(35)

Compacte CMOS-spectrometer(49)

Glasvezelspectrometer(53)

Dichtbij-infrarood spectrometer(38)

Modulaire Raman spectrometer(37)

Draagbare LIBS-analysator(10)

CMOS-straalprofieler(8)

Nanoseconde gepulseerde laser(5)

Nonplanner Ring Oscillator Laser(6)

Raman Probe en Flow Cell(8)

Desktop Raman Spectrometer(13)

FTIR-spectrometer(13)

OCT-spectrometer(13)

280nm-1100nm CMOS Beam Profiler Windows 10 64bit En Linux Ubuntu X86 Compatibel

1100 nm CMOS-straalprofieler

280 nm CMOS-straalprofieler

280 nm laserstraal analysator

laserstraalprofieler 30 μm

30 μm straalprofieler

280 nm laserstraal analysator

JINSP Company Limited is een professionele leverancier met meer dan 17 jaar ervaring op het gebied van productontwikkeling en productie van spectrale detectietechnologie.