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30μM / 5 Pixls Compact Beam Profiler The Perfect Tool For Advanced Laser Characterization

30μM / 5 Pixel Kompaktstrahlprofiler Das perfekte Werkzeug für die fortgeschrittene Lasercharakterisierung

Kontakt

30μM / 5 Pixel Kompaktstrahlprofiler Das perfekte Werkzeug für die fortgeschrittene Lasercharakterisierung

Min Bestellmenge :	1	Preis :	Verhandlungsfähig
Verpackung Informationen :	1 Stück pro Karton	Lieferzeit :	30 Arbeitstage
Zahlungsbedingungen :	T/T	Versorgungsmaterial-Fähigkeit :	20pcs pro Monat

Herkunftsort:	China	Markenname:	JINSP
Zertifizierung:	CE ISO9001 IP30 IP40	Modellnummer:	BA1023
Dokument:	Produktbroschüre PDF

Detailinformationen
Dimension:	78 * 45 * 38,5 mm (ohne Unterlage)	Maximale Rahmen-Rate:	41 fps@1920*1200
Datenoberfläche:	USB3 Vision, GenlCam	Stromversorgung:	USB- oder 12V-Gleichstrom mit externer Stromversorgung
Mindestdetektionsbereich:	30 μm (5 Pixel)
Hervorheben:	Kompakter Strahlprofiler , 30 μm Strahlprofiler , 5 Pixel Laserstrahlprofiler

Produkt-Beschreibung

30 μM / 5 Pixel Kompaktstrahlprofiler - Das perfekte Werkzeug für die fortgeschrittene Lasercharakterisierung

Schlüsselmerkmale

Abmessungen: 78 × 45 × 38,5 mm (ohne Unterlage)
Maximale Bildrate: 41 Fps@1920×1200
Datenoberfläche: USB3 Vision, GenlCam
Stromversorgung: USB- oder 12V-Gleichspannung
Mindestdetektionsbereich: 30 μm (5 Pixel)

Produktübersicht

Das BA1023 USB 1920×1200 CMOS 280nm ~ 1100nm Laserstrahl-Punktanalyse ist ein Präzisionsinstrument für die fortschrittliche Lasercharakterisierung.Dieser kompakte Strahlprofiler bietet eine außergewöhnliche Genauigkeit mit einem Signal-Rausch-Verhältnis von 40 dB, so dass es für Forschung, Fertigung und industrielle Anwendungen, die präzise Lasermessungen erfordern, ideal ist.

Wesentliche Merkmale

Echtzeitvergleich von doppelten Lichtstellen für die Seite-an-Seite-Bestrahlungsanalyse
Hintergrundbearbeitung zur Beseitigung von Lärm und Verbesserung der Messgenauigkeit
Integrierte Lichtstärke-Kamera zur präzisen Messung der Lichtstärke
Kompaktes Design mit USB- oder 12V Gleichspannungsoptionen
Einjährige Garantie mit kostenlosem Reparaturservice

Technische Spezifikation

Produktcode	BA1023	BA1024Ga	BA1024Gb	BA1024Ua	BA1024Ub
Wellenlängenbereich der Sonde	280 nm ~ 1100 nm
Wirksame Sensorfläche	11 mm × 7 mm	13 mm × 8,7 mm	7 mm × 5,5 mm	40,9 mm × 3,7 mm	-
Sensor	2.3MP, 1/1.2" CMOS	20 MP, 1 " CMOS	2 MP, 1/1.7 " CMOS	0.4MP, 1/2.9" CMOS	-
SNR	40 dB	440,9 dB	41.5 dB	430,7 dB	420,9 dB

Anwendungen

Der JINSP BA1023 Strahlprofiler ist unerlässlich für:

Laserherstellungsprozesse (Schweißen, Schneiden, Bohren)
Forschung und Entwicklung von Lasertechnologien
Anwendungen für medizinische Laserbehandlungen
Militärische und Verteidigungslasersysteme

Unterstützung und Dienstleistungen

Unser umfassendes Förderpaket umfasst:

Installations- und Einrichtungshilfe
Fehlerbehebung und technische Unterstützung
Regelmäßige Softwareaktualisierungen
Ausbildungsmittel
Reparatur- und Ersatzdienstleistungen

Häufig gestellte Fragen

F1: Wie lautet der Markenname dieses Strahlprofiler?

A1: Die Marke ist JINSP.

F2: Wie lautet die Modellnummer?

A2: Die Modellnummer lautet BA1023.

F4: Wie sind die Zahlungsbedingungen?

A4: Die Zahlungsbedingungen sind T/T.

F5: Wie ist die Lieferzeit?

A5: Die Lieferzeit beträgt 30 Werktage.

Größe und Tag:

Handheld Raman Spektrometer(89)

Raman-Gasanalysator(32)

Raman-Analysator-Prozessgeräte(35)

Kompaktes CMOS-Spektrometer(49)

Glasfaserspektrometer(53)

Nahe-Infrarot-Spektrometer(38)

Moduläres Raman-Spektrometer(37)

Handheld-LIBS-Analysator(10)

CMOS-Strahlprofiler(8)

Nanosekunden-Pulslaser(5)

Nichtplaner-Ring-Oszillatorlaser(6)

Raman-Sonde und Strömungszelle(8)

Desktop-Raman-Spektrometer(13)

FTIR-Spektrometer(13)

OZT-Spektrometer(13)

30μM / 5 Pixel Kompaktstrahlprofiler Das perfekte Werkzeug für die fortgeschrittene Lasercharakterisierung

Kompakter Strahlprofiler

30 μm Strahlprofiler

5 Pixel Laserstrahlprofiler

Laserstrahlprofiler 30 μm

30 μm Strahlprofiler

280 nm Laserstrahl-Analysator

JINSP Company Limited ist ein professioneller Lieferant mit über 17 Jahren Erfahrung in der Entwicklung und Herstellung von Spektraldetektiertechnologieprodukten.