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280nm-1100nm CMOS Beam Profiler Windows 10 64bit And Linux Ubuntu X86 Compatible

280nm-1100nm CMOS Beam Profiler Windows 10 64bit und Linux Ubuntu X86 kompatibel

Kontakt

280nm-1100nm CMOS Beam Profiler Windows 10 64bit und Linux Ubuntu X86 kompatibel

Min Bestellmenge :	1	Preis :	Verhandlungsfähig
Verpackung Informationen :	1 Stück pro Karton	Lieferzeit :	30 Arbeitstage
Zahlungsbedingungen :	T/T	Versorgungsmaterial-Fähigkeit :	20pcs pro Monat

Herkunftsort:	China	Markenname:	JINSP
Zertifizierung:	CE ISO9001 IP30 IP40	Modellnummer:	BA1023
Dokument:	Produktbroschüre PDF

Detailinformationen
Wirksame Sensorfläche:	11 mm*7 mm	Datenoberfläche:	USB3 Vision, GenlCam
Dimension:	78 * 45 * 38,5 mm (ohne Unterlage)	Stromversorgung:	USB- oder 12V-Gleichstrom mit externer Stromversorgung
Wellenlängenbereich:	280 nm bis 1100 nm	Zellgröße:	50,86 μm*5,86 μm
Unterstützung von Betriebssystemen:	Windows 10 ((64bit) und Linux ((Ubuntu X86)	Maximale Rahmen-Rate:	41 fps@1920*1200
Hervorheben:	1100 nm CMOS-Strahlprofiler , 280 nm CMOS-Strahlprofiler , 280 nm Laserstrahl-Analysator

Produkt-Beschreibung

280nm-1100nm CMOS-Strahlprofiler Windows 10 64bit und Linux Ubuntu X86 kompatibel

Produktübersicht

Der BA1023 USB 1920x1200 CMOS 280nm~1100nm Laserstrahl-Spot-Analysator bietet präzise Messungen der Laserstrahl-Spotgröße, -form und -intensität mit Echtzeit-Vergleichsmöglichkeiten, Hintergrundbeschneidung und Lichtintensitäts-Kamerafunktionalität.

Wichtige Spezifikationen

Attribut	Wert
Effektive Sensorfläche	11 mm × 7 mm
Datenschnittstelle	USB3 Vision, GenlCam
Abmessungen	78 × 45 × 38,5 mm (ohne Sockel)
Stromversorgung	USB-gespeist oder 12V DC extern
Wellenlängenbereich	280nm-1100nm
Zellgröße	5,86μm × 5,86μm
Unterstützte Betriebssysteme	Windows 10 (64 Bit) und Linux (Ubuntu X86)
Maximale Bildrate	41 Fps@1920×1200

Produktmerkmale

Hochauflösender 2,3MP CMOS-Sensor für detaillierte Strahlprofilierung
Echtzeit-Vergleichsfunktion für zwei Lichtpunkte
Hintergrundbeschneidung und Lichtintensitätsmessung
USB3 Vision und GenlCam kompatible Schnittstelle
Kompaktes Design mit flexiblen Stromversorgungsoptionen
Kompatibel mit Windows 10 und Linux-Systemen

Produktmodelle

Modell	BA1023	BA1024Ga	BA1024Gb	BA1024Ua	BA1024Ub
Sensor	2,3 MP, 1/1,2" CMOS	20 MP, 1" CMOS	2 MP, 1/1,7" CMOS	0,4 MP, 1/2,9" CMOS	0,4 MP, 1/2,9" CMOS
Effektive Fläche	11 mm×7 mm	13 mm×8,7 mm	7 mm×5,5 mm	4,9 mm×3,7 mm	4,9 mm×3,7 mm
Max. Bildrate	41 fps@1920×1200	5,9 fps@5472×3648	90 fps@1624×1240	526,5 fps@720×540	526,5 fps@720×540

Produktbilder

Anwendungen

Der BA1023 Strahlprofiler ist ideal für:

Präzisionsmessung der Laserstrahlqualität
Optische Forschung und Entwicklung
Überwachung der Leistung von Lasersystemen
Echtzeit-Verarbeitung von Spot-Analysen
Messung der Lichtintensitätsverteilung

Support & Services

Installationsunterstützung und Fehlerbehebung
Software-Updates und technische Dokumentation
Kalibrierungs- und Wartungsdienste
Umfassende Benutzerschulung
Garantie- und Reparaturservices

Häufig gestellte Fragen

Wie lautet der Markenname des Strahlprofilers?

JINSP

Wie lautet die Modellnummer?

BA1023

Was ist die Mindestbestellmenge?

1 Einheit

Wie lauten die Zahlungsbedingungen?

T/T (Telegrafische Überweisung)

Wie ist die Lieferzeit?

30 Werktage

Größe und Tag:

Handheld Raman Spektrometer(89)

Raman-Gasanalysator(32)

Raman-Analysator-Prozessgeräte(35)

Kompaktes CMOS-Spektrometer(49)

Glasfaserspektrometer(53)

Nahe-Infrarot-Spektrometer(38)

Moduläres Raman-Spektrometer(37)

Handheld-LIBS-Analysator(10)

CMOS-Strahlprofiler(8)

Nanosekunden-Pulslaser(5)

Nichtplaner-Ring-Oszillatorlaser(6)

Raman-Sonde und Strömungszelle(8)

Desktop-Raman-Spektrometer(13)

FTIR-Spektrometer(13)

OZT-Spektrometer(13)

280nm-1100nm CMOS Beam Profiler Windows 10 64bit und Linux Ubuntu X86 kompatibel

1100 nm CMOS-Strahlprofiler

280 nm CMOS-Strahlprofiler

280 nm Laserstrahl-Analysator

Laserstrahlprofiler 30 μm

30 μm Strahlprofiler

280 nm Laserstrahl-Analysator

JINSP Company Limited ist ein professioneller Lieferant mit über 17 Jahren Erfahrung in der Entwicklung und Herstellung von Spektraldetektiertechnologieprodukten.