เครื่องวัดสเปกโตรมิเตอร์ควอนตัมประสิทธิภาพสูง 92% สำหรับวัดความหนาฟิล์ม ช่วงสเปกตรัม 200nm - 1100nm

เทคโนโลยีฟิล์มบางมีบทบาทสำคัญในอุตสาหกรรมต่างๆ เช่น เซมิคอนดักเตอร์ พลังงานแสงอาทิตย์ จอแสดงผล และสารเคลือบผิวแบบออปติคัล สเปกโตรมิเตอร์ประสิทธิภาพควอนตัมสูงของเราให้การวัดความหนาแบบไม่สัมผัสที่แม่นยำสำหรับการวิเคราะห์สัณฐานวิทยาของพื้นผิว โดยผสมผสานอัลกอริทึมอัจฉริยะเข้ากับอุปกรณ์ออปติคัลเพื่อการประเมินคุณภาพที่แม่นยำ

• ประสิทธิภาพควอนตัมสูง: 92% peak @650nm, 83% @232nm
• SNR สูง: สัญญาณรบกวนต่ำเป็นพิเศษพร้อม SNR สูงถึง 1000:1
• การประมวลผลสัญญาณอ่อนโดยไม่มีสัญญาณรบกวนในการเปิดรับแสงนาน
• วงจรความเร็วสูงที่มีสัญญาณรบกวนต่ำพร้อมอินเทอร์เฟซ USB3.0

สเปกโตรมิเตอร์วิเคราะห์รูปแบบการรบกวนที่สร้างขึ้นโดยลำแสงที่สะท้อนจากพื้นผิวฟิล์มและขอบเขตของพื้นผิว ความหนาของฟิล์มคำนวณโดยใช้วิธีการ extremum โดยคำนึงถึงมุมตกกระทบ ดัชนีการหักเห และตำแหน่งยอดสเปกตรัม วิธีการไม่สัมผัสนี้ให้การวัดที่แม่นยำสำหรับการควบคุมคุณภาพและการปรับปรุงกระบวนการ

• การวิเคราะห์สเปกตรัมการดูดกลืน การส่งผ่าน และการสะท้อน
• ลักษณะเฉพาะของแหล่งกำเนิดแสงและคลื่นความถี่เลเซอร์
• โมดูล OEM สำหรับการเรืองแสงและสเปกโทรสโกปีรามาน

หมายเหตุ: รุ่นที่ทำเครื่องหมายด้วย * ได้รับการออกแบบมาเป็นหลักสำหรับการใช้งาน Raman