logo
Greek
Μας ελάτε σε επαφή με

Υπεύθυνος : Phoebe Yu

Τηλεφωνικό νούμερο : 8618620854039

Το WhatsApp : +8618620854039

Free call
Αρχική Σελίδα ΠροϊόνταΦύλακο-οπτικό φασματομετρητή92% Υψηλός Κβαντικός Φασματογράφος για Μέτρηση Πάχους Φιλμ Φασματικό Εύρος 200nm - 1100nm
92% High Quantum Spectrometer for Film Thickness Measurement Spectral Range 200nm 1100nm
92% High Quantum Spectrometer for Film Thickness Measurement Spectral Range 200nm 1100nm 92% High Quantum Spectrometer for Film Thickness Measurement Spectral Range 200nm 1100nm 92% High Quantum Spectrometer for Film Thickness Measurement Spectral Range 200nm 1100nm 92% High Quantum Spectrometer for Film Thickness Measurement Spectral Range 200nm 1100nm
Επικοινωνήστε

92% Υψηλός Κβαντικός Φασματογράφος για Μέτρηση Πάχους Φιλμ Φασματικό Εύρος 200nm - 1100nm

Ποσότητα παραγγελίας min : 1 Τιμή : Διαπραγματεύσιμα
Συσκευασία λεπτομέρειες : Διεθνής αποστολή συσκευασίας Χρόνος παράδοσης : 90-120 εργάσιμες ημέρες
Όροι πληρωμής : T/T, Western Union Δυνατότητα προσφοράς : 100PCS/90-120 ημέρες
Τόπος καταγωγής: Κίνα Μάρκα: JINSP
Πιστοποίηση: ISO9001 Αριθμό μοντέλου: SR100Q
Έγγραφο: Βιβλίο του προϊόντος PDF

Λεπτομερής ενημέρωση
Φασματικό εύρος: 200 nm - 1100 nm Αποτελεσματικά Pixels: 1024*122
Αποτελεσματικότητα Qutuam: Το QE92% peak@650nm, 83%@232nm ΣΕΠ: 1000:1
Επισημαίνω:

1100nm Κβαντικός Φασματογράφος

,

92% Κβαντικός Φασματογράφος

,

Κβαντικός Φασματογράφος Μέτρησης Πάχους Φιλμ

Περιγραφή προϊόντων

92% Φασματόμετρο Υψηλής Κβαντικής Απόδοσης για Μέτρηση Πάχους Φιλμ
Βασικές Προδιαγραφές
Φασματικό Εύρος:
200nm - 1100nm
Αποτελεσματικά εικονοστοιχεία:
1024*122
Κβαντική Απόδοση:
QE92%peak@650nm, 83%@232nm
SNR:
1000:1
Επισκόπηση Προϊόντος

Η τεχνολογία λεπτών φιλμ διαδραματίζει ζωτικό ρόλο σε βιομηχανίες όπως ημιαγωγοί, ηλιακή ενέργεια, οθόνες και οπτικές επιστρώσεις. Το φασματόμετρο υψηλής κβαντικής απόδοσης παρέχει ακριβή, μη-επαφής μέτρηση πάχους για την ανάλυση της μορφολογίας της επιφάνειας, συνδυάζοντας έξυπνους αλγορίθμους με οπτικές συσκευές για ακριβή αξιολόγηση ποιότητας.

Λεπτομερείς Τεχνικές Παράμετροι
Προδιαγραφές Ανιχνευτή
Ανιχνευτής Τύπος Chip Οπίσθια φωτιζόμενος TE-cooled Hamamatsu S7031
Αποτελεσματικό Εικονοστοιχείο 1024*122
Μέγεθος Εικονοστοιχείου 24*24μm
Περιοχή Αίσθησης 24.576*2.928mm
Οπτικές Παράμετροι
Οπτικός Σχεδιασμός F/4 cross-type
Αριθμητικό Διάφραγμα 0.13
Εστιακή Απόσταση 100mm
Πλάτος Εισόδου Σχισμής 10μm,25μm,50μm,100μm,200μm (προσαρμόσιμο)
Διασύνδεση Ινών SMA905, ελεύθερος χώρος
Τεχνικά Χαρακτηριστικά
  • Υψηλή κβαντική απόδοση: 92% peak @650nm, 83% @232nm
  • Υψηλό SNR: Εξαιρετικά χαμηλός σκοτεινός θόρυβος με SNR έως 1000:1
  • Επεξεργασία χωρίς θόρυβο ασθενών σημάτων σε μεγάλη έκθεση
  • Κύκλωμα χαμηλού θορύβου, υψηλής ταχύτητας με διασύνδεση USB3.0
Μεθοδολογία Μέτρησης

Το φασματόμετρο αναλύει τα μοτίβα παρεμβολής που δημιουργούνται από τις ανακλώμενες δέσμες από τις επιφάνειες των φιλμ και τα όρια του υποστρώματος. Το πάχος του φιλμ υπολογίζεται χρησιμοποιώντας τη μέθοδο ακροτάτων, λαμβάνοντας υπόψη τη γωνία πρόσπτωσης, τον δείκτη διάθλασης και τις θέσεις των φασματικών κορυφών. Αυτή η μέθοδος μη-επαφής παρέχει ακριβείς μετρήσεις για τον ποιοτικό έλεγχο και τη βελτίωση της διαδικασίας.

92% Υψηλός Κβαντικός Φασματογράφος για Μέτρηση Πάχους Φιλμ Φασματικό Εύρος 200nm - 1100nm 0
Περιοχές Εφαρμογής
  • Ανάλυση φάσματος απορρόφησης, διαπερατότητας και ανάκλασης
  • Χαρακτηρισμός μήκους κύματος πηγής φωτός και λέιζερ
  • Μονάδες OEM για φθορισμό και φασματοσκοπία Raman
92% Υψηλός Κβαντικός Φασματογράφος για Μέτρηση Πάχους Φιλμ Φασματικό Εύρος 200nm - 1100nm 1 92% Υψηλός Κβαντικός Φασματογράφος για Μέτρηση Πάχους Φιλμ Φασματικό Εύρος 200nm - 1100nm 2 92% Υψηλός Κβαντικός Φασματογράφος για Μέτρηση Πάχους Φιλμ Φασματικό Εύρος 200nm - 1100nm 3
Μοντέλα Προϊόντων
Μοντέλο Φασματικό Εύρος(nm) Ανάλυση(nm) Σχισμή(μm)
SR100Q-G21 200~950 6.8 200
SR100Q-G22 350~1100 2.2 50
SR100Q-G23 200~775 1.6 50
SR100Q-G24 350~925 1.0 25
SR100Q-G25 532~690(4400cm-1*) 13cm-1 50
SR100Q-G26 638~800(3200cm-1) 10cm-1 25
SR100Q-G27 785~1050(3200cm-1) 11cm-1 50

Σημείωση: Τα μοντέλα που σημειώνονται με * είναι σχεδιασμένα κυρίως για εφαρμογές Raman.

Εταιρικό Προφίλ

Η JINSP Company Limited είναι ένας επαγγελματίας προμηθευτής με πάνω από 17 χρόνια εμπειρίας στην τεχνολογία φασματικής ανίχνευσης, συμπεριλαμβανομένων των τεχνολογιών Raman, FT-IR και LIBS. Οι βασικές μας τεχνολογίες έχουν φτάσει σε διεθνή κορυφαία επίπεδα με πάνω από 200 αιτήσεις διπλωμάτων ευρεσιτεχνίας.

Με έδρα το Πεκίνο και εγκατάσταση παραγωγής στην Jiangsu της Κίνας, η JINSP κατέχει πιστοποιήσεις ISO9001:2015, ISO14001:2015 και ISO45001:2018. Παρέχουμε διάφορες πιστοποιήσεις βιομηχανίας, συμπεριλαμβανομένων των CE, ECAC και ICT Security Testing.

Συχνές Ερωτήσεις
Ε: Είναι αυτό το φασματόμετρο εύκολο στη χρήση για αρχάριους χρήστες;
A: Παρέχουμε ολοκληρωμένα αγγλικά εγχειρίδια και εκπαιδευτικά βίντεο, μαζί με επαγγελματικές τεχνικές συναντήσεις υποστήριξης με τους μηχανικούς μας.
Ε: Προσφέρετε εκπαίδευση χειριστών;
A: Ναι, προσφέρουμε επιτόπια εκπαίδευση στις εγκαταστάσεις μας ή μπορούμε να στείλουμε μηχανικούς στην τοποθεσία σας για εγκατάσταση, εκπαίδευση και υποστήριξη συντήρησης.
Ε: Ποιος είναι ο ιστότοπός σας;
A: Επισκεφθείτε μας στο www.jinsptech.com για περισσότερες πληροφορίες.
Ε: Τι μέτρα διασφάλισης ποιότητας έχετε;
A: Όλα τα προϊόντα υποβάλλονται σε αυστηρή επιθεώρηση ποιότητας πριν από την αποστολή, με τεκμηρίωση και φωτογραφίες διαθέσιμες κατόπιν αιτήματος.

ετικέτα:

Αναλυτής φάσματος οπτικών ινών

Φωτομετρητής φασμάτων οπτικών ινών

φασματομετρητή οπτικών ινών

Μπορεί να είσαι σε αυτά
Ελάτε σε επαφή μαζί μας

Εισάγετε το μήνυμά σας

phoebeyu@jinsptech.com
+8618620854039
8618620854039
live:phoebe0040
8618620854039