担当者 : Phoebe Yu
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| 最小注文数量 : | 1 | 価格 : | 交渉可能 |
|---|---|---|---|
| パッケージの詳細 : | 国際 輸送 包装 | 受渡し時間 : | 90-120仕事日 |
| 支払条件 : | T/T,ウェスタン・ユニオン | 供給の能力 : | 100PCS/90-120 日 |
| 起源の場所: | 中国 | ブランド名: | JINSP |
|---|---|---|---|
| 証明: | ISO9001 | モデル番号: | SR100Q |
| 文書: | 製品説明書 PDF |
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詳細情報 |
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| スペクトル範囲: | 200nm~1100nm | 効果的なピクセル: | 1024*122 |
|---|---|---|---|
| Qutuam 効率性: | QE92%ピーク@650nm, 83%@232nm | SNR: | 1000:1 |
| ハイライト: | 1100nm量子分光計,92%量子分光計,膜厚測定量子分光計 |
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製品の説明
半導体や太陽光発電 ディスプレイや光学コーティングなどの産業において 重要な役割を果たしています表面形状を分析するための非接触厚み測定精密な品質評価のためのスマートアルゴリズムと光学装置を組み合わせます.
| 検出器の仕様 | ||
|---|---|---|
| 検出器 | チップタイプ | バックライト付きTE冷却ハママツーS7031 |
| 効果的なピクセル | 1024*122 | |
| ピクセルサイズ | 24*24μm | |
| 検出領域 | 24.576*2.928mm | |
| 光学パラメータ | |
|---|---|
| オプティカルデザイン | F/4型クロス |
| 数値アパルチャー | 0.13 |
| 焦点距離 | 100mm |
| 入り口の割れ目幅 | 10μm,25μm,50μm,100μm,200μm (カスタマイズ可能) |
| ファイバーインターフェース | SMA905 フリースペース |
フィルム表面と基板の境界から反射されたビームによって生成された干渉パターンを分析する.フィルムの厚さは極限方法を使用して計算されます.事故角度を計算するこの非接触方法により,品質管理とプロセス改善のための正確な測定が可能になります.
| モデル | スペクトル範囲 (nm) | 解析度 (nm) | 割れ目 (m) |
|---|---|---|---|
| SR100Q-G21 | 200~950 | 6.8 | 200 |
| SR100Q-G22 | 350~1100 | 2.2 | 50 |
| SR100Q-G23 | 200〜775 | 1.6 | 50 |
| SR100Q-G24 | 350~925 | 1.0 | 25 |
| SR100Q-G25 | 532~690 ((4400cm-1*) | 13cm-1 | 50 |
| SR100Q-G26 | 638~800 ((3200cm-1) | 10cm-1 | 25 |
| SR100Q-G27 | 785~1050 ((3200cm-1) | 11cm-1 | 50 |
注: * と記されたモデルは主にラマンアプリケーションのために設計されています.
JINSP Company Limitedは,スペクトル検出技術,ラマン,FT-IR,LIBS技術を含む17年以上の経験を持つプロのサプライヤーです.200件以上の特許出願で国際的にトップレベルに達しました.
JINSPは北京に本社を置き,中国江苏に製造施設を構えています.2015ISO14001:2015CE,ECAC,ICTセキュリティテストを含む様々な業界認証を提供しています.
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