Spectromètre quantique haute performance à 92 % pour la mesure de l'épaisseur de film, plage spectrale 200 nm - 1100 nm

La technologie des couches minces joue un rôle essentiel dans des secteurs tels que les semi-conducteurs, l'énergie solaire, les écrans et les revêtements optiques. Notre spectromètre à haute efficacité quantique fournit une mesure précise et sans contact de l'épaisseur pour l'analyse de la morphologie de surface, combinant des algorithmes intelligents avec des dispositifs optiques pour une évaluation précise de la qualité.

• Haute efficacité quantique : 92 % de crête à 650 nm, 83 % à 232 nm
• SNR élevé : bruit sombre ultra-faible avec un SNR allant jusqu'à 1000:1
• Traitement sans bruit des signaux faibles en longue exposition
• Circuit à faible bruit et à grande vitesse avec interface USB3.0

Le spectromètre analyse les figures d'interférence créées par les faisceaux réfléchis des surfaces des films et des limites du substrat. L'épaisseur du film est calculée à l'aide de la méthode de l'extremum, en tenant compte de l'angle d'incidence, de l'indice de réfraction et des positions des pics spectraux. Cette méthode sans contact fournit des mesures précises pour le contrôle qualité et l'amélioration des processus.

• Analyse du spectre d'absorption, de transmission et de réflexion
• Caractérisation de la longueur d'onde de la source lumineuse et du laser
• Modules OEM pour la fluorescence et la spectroscopie Raman

Remarque : Les modèles marqués d'un * sont principalement conçus pour les applications Raman.