BA1024Gb यूएसबी 5472x3648 लेजर बीम विश्लेषक 280nm-1100nm तरंग दैर्ध्य

JINSP बीम प्रोफाइलर इन मुख्य क्षमताओं के साथ व्यापक लेज़र और प्रकाश बीम विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किए गए सटीक-इंजीनियर उपकरण हैं:

• अनुकूलित सामग्री उपयोग के लिए सटीक प्रकाश स्पॉट आयाम और विशेषताओं को मापना
• कच्चे माल और तैयार उत्पादों की गुणवत्ता नियंत्रण के लिए सटीक प्रकाश स्पॉट पोजिशनिंग
• विभिन्न स्थितियों के तहत प्रकाश स्पॉट विविधताओं का तुलनात्मक विश्लेषण
• तत्काल प्रतिक्रिया और प्रक्रिया समायोजन के लिए वास्तविक समय की निगरानी

ये प्रोफाइलर सटीक लेज़र माप की आवश्यकता वाले उद्योगों के लिए आवश्यक उपकरण हैं, जो गुणवत्ता नियंत्रण, प्रक्रिया सुधार और वास्तविक समय की निगरानी के लिए समाधान प्रदान करते हैं।

• विंडोज 10 (64bit) और लिनक्स (Ubuntu X86) ऑपरेटिंग सिस्टम के साथ संगत
• कैमरा एक्सपोजर, लाभ और रिज़ॉल्यूशन नियंत्रण
• गॉसियन और सुपर-गॉसियन वक्र विश्लेषण के साथ वास्तविक समय स्यूडो-कलर 2D और 3D स्पॉट विज़ुअलाइज़ेशन
• स्पॉट पैरामीटर की माप जिसमें लंबी/छोटी धुरी, दीर्घवृत्ताकारता और रोटेशन कोण शामिल हैं
• उन्नत कार्य: दोहरे प्रकाश स्पॉट तुलना, पृष्ठभूमि क्रॉपिंग, प्रकाश तीव्रता कैमरा
• डेटा रिकॉर्डिंग और निर्यात क्षमताएं

• अनुसंधान और औद्योगिक अनुप्रयोगों के लिए लेज़र बीम गुणवत्ता माप
• ऑप्टिकल अनुसंधान, लेज़र सिस्टम विकास और प्रकाश ऊर्जा वितरण का पता लगाना
• लेज़र उपकरण निर्माताओं के लिए वास्तविक समय प्रसंस्करण निगरानी
• इमेजिंग लेंस के साथ प्रकाश तीव्रता वितरण निगरानी
• विशेष अनुप्रयोगों में नेत्र संबंधी एक्सिमर लेज़र प्रक्रियाएं शामिल हैं

2D और 3D स्पॉट पुनर्निर्माण

गॉसियन और सुपर-गॉसियन फिटिंग

पृष्ठभूमि कतरनी

दोहरे-बीम वास्तविक समय तुलना (स्थान, प्रकाश तीव्रता वितरण)

प्रकाश तीव्रता कैमरा (वैकल्पिक)