SMA905 en Free Space Fiber Interface voor het meten van filmdikte met glasvezelspectrometer

Van microchips tot zonnepanelen, dunne film toepassingen vereisen exacte dikte karakterisering. Foto-elektrische meting komt naar voren als de voorkeursaanpak - waarbij de integriteit van het monster behouden blijft en snelle resultaten worden geleverd. Slimme optische systemen maken nu uitgebreide oppervlakteanalyse mogelijk, wat zowel precisieproductie als de ontwikkeling van materialen van de volgende generatie faciliteert.

De JINSP SR100Q spectrometer is geïntegreerd met de Hamamatsu S7031, een wetenschappelijke TE-gekoelde area array CCD-chip. Met een pixelgrootte van maximaal 24*24μm en een uitstekende quantum efficiëntie van maximaal 92% garandeert hij een hoge respons in de ultraviolette band en verbetert hij effectief de gevoeligheid en SNR van zwakke signalen. Bovendien kan hij uitstekende spectrumsignalen realiseren, en stabiele en betrouwbare prestaties op basis van het geavanceerde high-resolution lichtpad en de ruisarme, snelle FPGA-signaalverwerkingschip.

• Hoge quantum efficiëntie, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• Hoge SNR: Ultra-lage donkere ruis bij lange integratietijd, SNR is zo hoog als 1000:1
• Ruisvrije heldere verwerking van zwak signaal bij lange belichting, sterke aanpassing aan de omgeving
• Ruisarm en snelle schakeling: USB3.0

Het meetsysteem gebruikt een glasvezelprobe om de film te verlichten, waardoor reflecties ontstaan op zowel de lucht-film als de film-substraat interfaces. Deze stralen interfereren en vormen een spectrum dat door de spectrometer wordt geanalyseerd. Door de extremum-methode toe te passen - rekening houdend met θ, n en spectrale extrema - wordt de filmdikte (d) berekend. De fringe-dichtheid correleert met de dikte, terwijl de golflengte er omgekeerd evenredig mee is. Zorgvuldige aanpassingen van het spectrale bereik en de resolutie zorgen voor betrouwbare resultaten.

• Detecteer absorptie, transmissie en reflectie Spectrum
• Karakterisering van lichtbron en laser golflengte
• OEM productmodule: Fluorescentiespectrum, Raman spectrum, etc.

JINSP Company Limited, afgekort als "JINSP", is een professionele leverancier met meer dan 17 jaar ervaring in spectrale detectietechnologieproducten, waaronder Raman, FT-IR, LIBS-technologieën, etc. Na 17 jaar technologieaccumulatie hebben de belangrijkste kerntechnologieën van het bedrijf het internationale leidende niveau bereikt en het cumulatieve aantal patentaanvragen overschreden de 200.

Naast het hoofdkantoor in de bruisende stad Beijing, heeft JINSP een volledig dochteronderneming opgericht met een productiefaciliteit in de provincie Jiangsu, China.

JINSP Company ontving ISO9001:2015, ISO14001:2015 en ISO45001:2018 certificeringen. JINSP kan de vereiste certificeringen verstrekken, zoals certificering door het Ministerie van Openbare Veiligheid of het Nationaal Instituut voor Metrologie, Milieucertificering, IP-certificering, CE-certificering, Transport Identificatie Rapport, EU ECAC-certificering, Duitse ICT-beveiligingstests, etc.