SMA905 und Freiraumfaser-Schnittstelle für die Filmtäckegemessung mit Glasfaserspektrometer

Von Mikrochips bis zu Solarmodulen erfordern Dünnschichtanwendungen eine exakte Dickencharakterisierung. Die photoelektrische Messung erweist sich als bevorzugter Ansatz - sie bewahrt die Integrität der Probe und liefert gleichzeitig schnelle Ergebnisse. Intelligente optische Systeme ermöglichen jetzt eine umfassende Oberflächenanalyse und erleichtern sowohl die Präzisionsfertigung als auch die Entwicklung von Materialien der nächsten Generation.

Das JINSP SR100Q-Spektrometer ist mit dem Hamamatsu S7031 integriert, einem wissenschaftlichen TE-gekühlten Flächenarray-CCD-Chip. Mit einer Pixelgröße von bis zu 24*24 µm und einer hervorragenden Quanteneffizienz von bis zu 92 % gewährleistet es eine hohe Reaktion im Ultraviolettband und verbessert effektiv die Empfindlichkeit und das SNR schwacher Signale. Darüber hinaus kann es hervorragende Spektralsignale sowie eine stabile und zuverlässige Leistung basierend auf dem fortschrittlichen hochauflösenden Lichtweg und dem rauscharmen, Hochgeschwindigkeits-FPGA-Signalverarbeitungschip realisieren.

• Hohe Quanteneffizienz, 92 %peak@650nm, 83 %@232nm
• Hohes SNR: Ultra-geringes Dunkelrauschen bei langer Integrationszeit, SNR ist bis zu 1000:1
• Rauschfreie, klare Verarbeitung schwacher Signale bei langer Belichtung, starke Anpassung an die Umgebung
• Rauscharme und Hochgeschwindigkeits-Schaltung: USB3.0

Das Messsystem verwendet eine faseroptische Sonde, um die Folie zu beleuchten, wodurch Reflexionen an den Grenzflächen zwischen Luft und Folie sowie zwischen Folie und Substrat erzeugt werden. Diese Strahlen interferieren und bilden ein Spektrum, das vom Spektrometer analysiert wird. Durch Anwendung der Extremwertmethode - unter Berücksichtigung von θ, n und spektralen Extremwerten - wird die Foliendicke (d) berechnet. Die Fransen-Dichte korreliert mit der Dicke, während die Wellenlänge sie umgekehrt beeinflusst. Sorgfältige Anpassungen des Spektralbereichs und der Auflösung gewährleisten zuverlässige Ergebnisse.

• Detektion von Absorptions-, Transmissions- und Reflexionsspektren
• Charakterisierung von Lichtquellen und Laserwellenlängen
• OEM-Produktmodul: Fluoreszenzspektrum, Raman-Spektrum usw.

JINSP Company Limited, abgekürzt als "JINSP", ist ein professioneller Anbieter mit über 17 Jahren Erfahrung in Produkten der Spektraldetektionstechnologie, einschließlich Raman-, FT-IR-, LIBS-Technologien usw. Nach 17 Jahren Technologieakkumulation haben die wichtigsten Schlüsseltechnologien des Unternehmens die internationale Spitzenposition auf dem Niveau erreicht, und die kumulierte Anzahl der Patentanmeldungen überstieg 200.

Zusätzlich zu seinem Hauptsitz in der geschäftigen Stadt Peking hat JINSP eine hundertprozentige Tochtergesellschaft mit Produktionsstätte in der Provinz Jiangsu, China, gegründet.

JINSP Company erhielt die Zertifizierungen ISO9001:2015, ISO14001:2015 und ISO45001:2018. JINSP kann erforderliche Zertifizierungen bereitstellen, wie z. B. Zertifizierungen des Ministeriums für öffentliche Sicherheit oder des National Institute of Metrology, Umweltzertifizierung, IP-Zertifizierung, CE-Zertifizierung, Transportidentifizierungsbericht, EU-ECAC-Zertifizierung, deutsche IKT-Sicherheitsprüfung usw.