SMA905 e interfaccia in fibra di spazio libero per la misurazione dello spessore della pellicola con spettrometro a fibra ottica

Dai microchip ai moduli solari, le applicazioni di film sottile richiedono una caratterizzazione esatta dello spessore.La misurazione fotoelettrica emerge come l'approccio preferito - preservando l'integrità del campione fornendo risultati rapidiI sistemi ottici intelligenti consentono ora un'analisi completa della superficie, facilitando sia la produzione di precisione che lo sviluppo di materiali di nuova generazione.

Lo spettrometro JINSP SR100Q è integrato con l'Hamamatsu S7031, un chip CCD ad area TE raffreddata di livello scientifico.Con una dimensione di pixel fino a 24*24μm e un'eccellente efficienza quantistica fino al 92%, garantisce un'elevata risposta nella banda ultravioletta e migliora efficacemente la sensibilità e la SNR dei segnali deboli.e prestazioni stabili e affidabili basate sul percorso luminoso avanzato ad alta risoluzione e basso rumore, chip di elaborazione del segnale FPGA ad alta velocità.

• Alta efficienza quantistica, 92% picco @ 650nm, 83% @ 232nm
• SNR elevato: rumore scuro ultra basso in condizioni di lungo tempo di integrazione, SNR fino a 1000:1
• Processo trasparente senza rumore di segnale debole in presenza di una lunga esposizione, forte adattamento all'ambiente
• Circuito a basso rumore e ad alta velocità: USB3.0

Il sistema di misurazione utilizza una sonda a fibra ottica per illuminare il film, generando riflessi sia alle interfacce aria-film che film-sottostrato.formando uno spettro analizzato dallo spettrometroApplicando il metodo dell'estremo - fattori in θ, n e estremo spettrale - viene calcolato lo spessore del film (d).Un'attenta regolazione della gamma spettrale e della risoluzione garantisce risultati affidabili.

• Detezione di assorbimento, trasmissione e riflessione Spettro
• Caratterizzazione della sorgente luminosa e della lunghezza d'onda del laser
• Modulo di prodotto OEM: spettro fluorescente, spettro Raman, ecc.

JINSP Company Limited, abbreviata come "JINSP", è un fornitore professionale con oltre 17 anni di esperienza nei prodotti di tecnologia di rilevamento spettrale, tra cui tecnologie Raman, FT-IR, LIBS, ecc.Dopo 17 anni di accumulazione di tecnologia, le principali tecnologie chiave dell'azienda hanno raggiunto la posizione di leader a livello internazionale e il numero cumulativo di domande di brevetto ha superato 200.

Oltre alla sua sede principale situata nella vivace città di Pechino, la JINSP ha stabilito un stabilimento di produzione di sussidiariità interamente di sua proprietà situato nella provincia cinese del Jiangsu.

La società JINSP ha ricevuto ISO9001:2015, ISO14001:2015JINSP può fornire le certificazioni richieste, come la certificazione del Ministero della pubblica sicurezza o dell'Istituto nazionale di metrologia,Certificazione del livello ambientale, Certificazione di livello IP, Certificazione CE, Rapporto di identificazione del trasporto, Certificazione ECAC UE, Test di sicurezza TIC tedeschi, ecc.