SMA905 и интерфейс волокна свободного пространства для измерения толщины пленки с помощью оптического спектрометра

От микрочипов до солнечных модулей, приложения для тонких пленок требуют точной характеристики толщины. Фотоэлектрические измерения становятся предпочтительным подходом, сохраняя целостность образца, обеспечивая при этом быстрые результаты. Современные оптические системы теперь позволяют проводить комплексный анализ поверхности, способствуя как точному производству, так и разработке материалов нового поколения.

Спектрометр JINSP SR100Q интегрирован с Hamamatsu S7031, научно-исследовательским ПЗС-чипом с охлаждением по площади. С размером пикселя до 24*24 мкм и отличной квантовой эффективностью до 92% он обеспечивает высокую чувствительность в ультрафиолетовом диапазоне и эффективно улучшает чувствительность и отношение сигнал/шум слабых сигналов. Кроме того, он может реализовывать отличные спектральные сигналы, а также стабильную и надежную работу на основе усовершенствованного светового пути высокого разрешения и малошумящего, высокоскоростного чипа обработки сигналов FPGA.

• Высокая квантовая эффективность, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• Высокое отношение сигнал/шум: Сверхнизкий темновой шум при длительном времени интегрирования, отношение сигнал/шум достигает 1000:1
• Бесшумная четкая обработка слабого сигнала при длительной экспозиции, высокая адаптация к окружающей среде
• Малошумящая и высокоскоростная схема: USB3.0

Измерительная система использует волоконно-оптический зонд для освещения пленки, создавая отражения на границах раздела воздух-пленка и пленка-подложка. Эти лучи интерферируют, образуя спектр, анализируемый спектрометром. Применяя метод экстремумов — учитывая θ, n и спектральные экстремумы — вычисляется толщина пленки (d). Плотность полос коррелирует с толщиной, в то время как длина волны обратно влияет на нее. Тщательная настройка спектрального диапазона и разрешения обеспечивает надежные результаты.

• Обнаружение спектра поглощения, пропускания и отражения
• Характеристика длины волны источника света и лазера
• Модуль OEM-продукта: спектр флуоресценции, спектр комбинационного рассеяния и т. д.

JINSP Company Limited, сокращенно «JINSP», является профессиональным поставщиком с более чем 17-летним опытом работы в области продуктов для технологий спектрального обнаружения, включая технологии комбинационного рассеяния, FT-IR, LIBS и т. д. После 17 лет накопления технологий основные ключевые технологии компании достигли международного лидирующего уровня, а совокупное количество патентных заявок превысило 200.

В дополнение к своей штаб-квартире, расположенной в оживленном городе Пекине, JINSP создала дочернее производственное предприятие, расположенное в провинции Цзянсу, Китай.

Компания JINSP получила сертификаты ISO9001:2015, ISO14001:2015 и ISO45001:2018. JINSP может предоставить необходимые сертификаты, такие как сертификация Министерством общественной безопасности или Национальным институтом метрологии, сертификация экологического уровня, сертификация уровня IP, сертификация CE, отчет об идентификации транспорта, сертификация ЕС ECAC, немецкое тестирование безопасности ИКТ и т. д.