SMA905 dan Free Space Fiber Interface untuk Pengukuran Ketebalan Film dengan Fiber Optic Spectrometer

Dari mikrochip hingga modul surya, aplikasi film tipis menuntut karakterisasi ketebalan yang tepat. Pengukuran fotolistrik muncul sebagai pendekatan yang disukai--mempertahankan integritas sampel sambil memberikan hasil yang cepat. Sistem optik pintar sekarang memungkinkan analisis permukaan yang komprehensif, memfasilitasi manufaktur presisi dan pengembangan material generasi berikutnya.

Spektrometer JINSP SR100Q diintegrasikan dengan Hamamatsu S7031, chip CCD array area kelas ilmiah yang didinginkan TE. Dengan ukuran piksel hingga 24*24μm dan efisiensi kuantum yang sangat baik hingga 92%, ia memastikan respons tinggi dalam pita ultraviolet dan secara efektif meningkatkan sensitivitas dan SNR dari sinyal lemah. Lebih lanjut, ia dapat mewujudkan sinyal spektrum yang sangat baik, dan kinerja yang stabil dan andal berdasarkan jalur cahaya resolusi tinggi yang canggih dan chip pemrosesan sinyal FPGA berkecepatan tinggi dan kebisingan rendah.

• Efisiensi kuantum tinggi, 92%peak@650nm, 83%@232nm
• SNR Tinggi: Kebisingan gelap ultra-rendah di bawah waktu integrasi yang lama, SNR setinggi 1000:1
• Pemrosesan sinyal lemah yang jelas tanpa noise dalam eksposur yang lama, adaptasi yang kuat terhadap lingkungan
• Sirkuit kebisingan rendah dan kecepatan tinggi: USB3.0

Sistem pengukuran menggunakan probe serat optik untuk menerangi film, menghasilkan pantulan pada antarmuka udara-film dan film-substrat. Sinar-sinar ini berinterferensi, membentuk spektrum yang dianalisis oleh spektrometer. Dengan menerapkan metode ekstremum--mempertimbangkan θ, n, dan ekstrem spektral--ketebalan film (d) dihitung. Kepadatan fringe berkorelasi dengan ketebalan, sementara panjang gelombang mempengaruhinya secara terbalik. Penyesuaian rentang spektral dan resolusi yang cermat memastikan hasil yang andal.

• Mendeteksi spektrum absorpsi, transmitansi, dan refleksi
• Karakterisasi sumber cahaya dan panjang gelombang laser
• Modul produk OEM: Spektrum fluoresensi, spektrum Raman, dll.

JINSP Company Limited, disingkat "JINSP", adalah pemasok profesional dengan pengalaman lebih dari 17 tahun dalam produk teknologi deteksi spektral, termasuk teknologi Raman, FT-IR, LIBS, dll. Setelah 17 tahun akumulasi teknologi, teknologi kunci inti perusahaan telah mencapai posisi terdepan internasional pada tingkat, dan jumlah kumulatif aplikasi paten melebihi 200.

Selain kantor pusatnya yang terletak di kota Beijing yang ramai, JINSP telah mendirikan fasilitas manufaktur anak perusahaan yang sepenuhnya dimiliki yang berlokasi di provinsi Jiangsu, China.

Perusahaan JINSP menerima sertifikasi ISO9001:2015, ISO14001:2015, dan ISO45001:2018. JINSP dapat menyediakan sertifikasi yang diperlukan, seperti sertifikasi oleh Kementerian Keamanan Publik atau Institut Metrologi Nasional, Sertifikasi Tingkat Lingkungan, Sertifikasi Tingkat IP, Sertifikasi CE, Laporan Identifikasi Transportasi, sertifikasi EU ECAC, Pengujian Keamanan TIK Jerman, dll.