SMA905 et l'interface en fibre de l'espace libre pour la mesure de l'épaisseur du film avec spectromètre à fibre optique

Des micropuces aux modules solaires, les applications de couches minces exigent une caractérisation précise de l'épaisseur. La mesure photoélectrique s'impose comme l'approche privilégiée, préservant l'intégrité de l'échantillon tout en fournissant des résultats rapides. Les systèmes optiques intelligents permettent désormais une analyse complète de la surface, facilitant à la fois la fabrication de précision et le développement de matériaux de nouvelle génération.

Le spectromètre JINSP SR100Q est intégré au Hamamatsu S7031, une puce CCD à réseau de zones refroidie par TE de qualité scientifique. Avec une taille de pixel allant jusqu'à 24*24μm et une excellente efficacité quantique allant jusqu'à 92 %, il assure une réponse élevée dans la bande ultraviolette et améliore efficacement la sensibilité et le SNR des signaux faibles. De plus, il peut réaliser d'excellents signaux spectraux et des performances stables et fiables basées sur le trajet optique avancé à haute résolution et la puce de traitement du signal FPGA à faible bruit et à grande vitesse.

• Efficacité quantique élevée, 92 %peak@650nm, 83 %@232nm
• SNR élevé : bruit sombre ultra-faible avec un temps d'intégration long, le SNR est aussi élevé que 1000:1
• Traitement clair sans bruit des signaux faibles en longue exposition, forte adaptation à l'environnement
• Circuit à faible bruit et à grande vitesse : USB3.0

Le système de mesure utilise une sonde à fibre optique pour éclairer le film, générant des réflexions aux interfaces air-film et film-substrat. Ces faisceaux interfèrent, formant un spectre analysé par le spectromètre. En appliquant la méthode de l'extremum, en tenant compte de θ, n et des extrema spectraux, l'épaisseur du film (d) est calculée. La densité des franges est corrélée à l'épaisseur, tandis que la longueur d'onde l'affecte inversement. Des ajustements minutieux de la plage spectrale et de la résolution garantissent des résultats fiables.

• Détecter l'absorption, la transmittance et le spectre de réflexion
• Caractérisation de la source lumineuse et de la longueur d'onde laser
• Module de produit OEM : spectre de fluorescence, spectre Raman, etc.

JINSP Company Limited, abrégé en « JINSP », est un fournisseur professionnel avec plus de 17 ans d'expérience dans les produits de technologie de détection spectrale, y compris les technologies Raman, FT-IR, LIBS, etc. Après 17 ans d'accumulation technologique, les technologies clés de base de l'entreprise ont atteint la position de leader international au niveau, et le nombre cumulé de demandes de brevets a dépassé 200.

En plus de son siège principal situé dans la ville animée de Pékin, JINSP a établi une usine de fabrication filiale à part entière située dans la province du Jiangsu, en Chine.

JINSP Company a reçu les certifications ISO9001:2015, ISO14001:2015 et ISO45001:2018. JINSP peut fournir les certifications requises, telles que la certification par le ministère de la Sécurité publique ou l'Institut national de métrologie, la certification de niveau environnemental, la certification de niveau IP, la certification CE, le rapport d'identification du transport, la certification UE ECAC, les tests de sécurité ICT allemands, etc.