SMA905と光ファイバースペクトロメーターによるフィルム厚さの測定のためのフリースペースファイバーインターフェース

マイクロチップからソーラーモジュールまで、薄膜アプリケーションは正確な厚さの特性評価を要求します。光電測定は、サンプル完全性を維持しながら迅速な結果を提供する、好ましいアプローチとして登場しています。スマート光学システムは、精密製造と次世代材料開発の両方を促進し、包括的な表面分析を可能にします。

JINSP SR100Q分光計は、浜松S7031、科学グレードのTE冷却エリアアレイCCDチップと統合されています。最大24*24μmの画素サイズと最大92%の優れた量子効率により、紫外線帯での高い応答を保証し、弱い信号の感度とSNRを効果的に向上させます。さらに、高度な高解像度光路と低ノイズ、高速FPGA信号処理チップに基づいて、優れたスペクトル信号と安定した信頼性の高い性能を実現できます。

• 高量子効率、92%peak@650nm、83%@232nm
• 高SNR：長時間の積分時間下での超低暗ノイズ、SNRは1000:1にも達します
• 長時間の露光における弱信号のノイズフリークリア処理、環境への強力な適応性
• 低ノイズ、高速回路：USB3.0

測定システムは、ファイバーオプティックプローブを使用して膜を照射し、空気-膜および膜-基板界面の両方で反射を生成します。これらのビームは干渉し、分光計によって分析されるスペクトルを形成します。極値法を適用することにより、θ、n、およびスペクトル極値を考慮して、膜厚（d）が計算されます。フリンジ密度は厚さと相関し、波長はそれに反比例します。慎重なスペクトル範囲と分解能の調整により、信頼性の高い結果が保証されます。

• 吸収、透過率、反射スペクトルを検出
• 光源とレーザー波長の特性評価
• OEM製品モジュール：蛍光スペクトル、ラマンスペクトルなど

JINSP Company Limited（略称「JINSP」）は、ラマン、FT-IR、LIBS技術など、スペクトル検出技術製品において17年以上の経験を持つ専門サプライヤーです。17年間の技術蓄積を経て、同社のコアキーテクノロジーは国際的なリーディングポジションに達し、特許出願の累計数は200件を超えました。

JINSPは、北京の賑やかな都市に本社を置くことに加えて、中国江蘇省に完全子会社である製造施設を設立しました。

JINSP Companyは、ISO9001:2015、ISO14001:2015、およびISO45001:2018の認証を取得しています。JINSPは、公安省または国立計量研究所による認証、環境レベル認証、IPレベル認証、CE認証、輸送識別レポート、EU ECAC認証、ドイツICTセキュリティテストなど、必要な認証を提供できます。